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龙图腾网获悉瀚博半导体(上海)股份有限公司申请的专利芯片内部性能测试电路及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121457404B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-06发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610019481.3，技术领域涉及：G06F30/33；该发明授权芯片内部性能测试电路及测试方法是由张振华;黄贺龙;李锐设计研发完成，并于2026-01-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本芯片内部性能测试电路及测试方法在说明书摘要公布了：本申请提供了一种芯片内部性能测试电路及测试方法，该芯片内部性能测试电路包括：分布式计数器阵列，部署于芯片的计算块中并且包括多个可配置计数器，所述计数器阵列由独立于芯片核心时钟的专用时钟源驱动，并且通过专用硬件监控通路从计算单元内的执行单元旁路提取事件信号；中心处理单元，包括采样和打包模块、数据接收模块，时间戳生成器；配置与控制模块，用于配置计数器事件绑定、采样周期、外部存储器起始地址及测试启停状态；片上互联总线，用于将数据块写入外部存储器。根据本申请的计数器阵列采用独立异步时钟，从根源上避免与核心计算资源的相互干扰。

本发明授权芯片内部性能测试电路及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种芯片内部性能测试电路，其特征在于，包括： 分布式计数器阵列，部署于芯片的计算块中并且包括多个可配置计数器，所述计数器阵列由独立于芯片核心时钟的专用时钟源驱动，并且通过专用硬件监控通路从计算单元内的执行单元旁路提取事件信号； 中心处理单元，包括： 采样和打包模块，用于向计数器阵列发送采样窗口同步信号并从计算块接收采样事件信号，并且将测试数据合并为数据块； 数据接收模块，用于从计数器阵列接收计数器数据并将计数器数据发送给采样和打包模块； 时间戳生成器，用于为从计数器阵列接收到的计数器数据生成时间戳； 配置与控制模块，用于配置计数器事件绑定、采样周期、外部存储器起始地址及测试启停状态； 片上互联总线，用于将数据块写入外部存储器，其中，采样和打包模块包括窗口控制器和第一跨时钟域同步补偿模块，窗口控制器用于生成采样窗口同步信号，跨时钟域同步补偿模块将采样事件通过两级触发器同步到中心处理单元，并且其中，片上互联总线包括负载检测模块，用于计算互联总线的AWVALID和或WVALID信号的有效周期占比计算总线利用率，所述采样和打包模块被配置为根据总线利用率调整采样窗口周期。

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