深圳市时创意电子股份有限公司陈龙胜获国家专利权
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龙图腾网获悉深圳市时创意电子股份有限公司申请的专利限位组件和芯片测试装置获国家实用新型专利权,本实用新型专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN223977311U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-06发布的实用新型授权公告中获悉:该实用新型的专利申请号/专利号为:202423321717.4,技术领域涉及:G01R31/28;该实用新型限位组件和芯片测试装置是由陈龙胜设计研发完成,并于2024-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本限位组件和芯片测试装置在说明书摘要公布了:本申请公开了一种限位组件和芯片测试装置,涉及芯片测试技术领域;所述芯片测试装置包括测试座,所述测试座包括测试框、测试底板和多个测试连接点,所述测试框为中空的框体结构,所述测试框与所述测试底板配合形成第一芯片测试位,多个所述测试连接点设置在所述第一芯片测试位内的所述测试底板上,其特征在于,所述限位组件可拆卸设置在所述第一芯片测试位内,用于固定多种不同尺寸的待检测芯片,所述限位组件与所述第一芯片测试位配合形成第二芯片测试位,其中,所述第二芯片测试位的尺寸小于所述第一芯片测试位的尺寸;本申请通过以上设计,测试方便、提高芯片测试效率。
本实用新型限位组件和芯片测试装置在权利要求书中公布了:1.一种限位组件,用于芯片测试装置,所述芯片测试装置包括测试座,所述测试座包括测试框、测试底板和多个测试连接点,所述测试框为中空的框体结构,所述测试框与所述测试底板配合形成第一芯片测试位,多个所述测试连接点设置在所述第一芯片测试位内的所述测试底板上,其特征在于,所述限位组件可拆卸设置在所述第一芯片测试位内,用于固定多种不同尺寸的待检测芯片,所述限位组件与所述第一芯片测试位配合形成第二芯片测试位,其中 所述第二芯片测试位的尺寸小于所述第一芯片测试位的尺寸。
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