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龙图腾网获悉武汉大学申请的专利高频地波雷达数据质量评估方法、装置与设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115358048B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-10发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210873168.8，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权高频地波雷达数据质量评估方法、装置与设备是由岳显昌;高玉斌;东松林;吴雄斌;张兰设计研发完成，并于2022-07-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本高频地波雷达数据质量评估方法、装置与设备在说明书摘要公布了：本发明提供一种高频地波雷达数据质量评估方法、装置、与设备。该方法包括：构建评估模型；按场获取每场待评估雷达数据；将所述每场待评估雷达数据分别输入所述评估模型，分别得到每场雷达数据对应的综合评分。本发明提供的基于深度学习的高频地波雷达数据质量评估方法，通过构建评估模型，实现了对大量高频地波雷达数据进行自动化质量评估的目的，并且评估效率高。

本发明授权高频地波雷达数据质量评估方法、装置与设备在权利要求书中公布了：1.一种高频地波雷达数据质量评估方法，其特征在于，包括： 构建评估模型； 其中评估模型的构建包括：获取雷达数据对应的质量评估指标；所述质量评估指标包括：一阶Bragg峰相关指标、射频干扰相关指标、电离层杂波相关指标；根据所述质量评估指标确定每个质量评估指标对应的子质量评估指标；根据所述子质量评估指标获取每场雷达数据中每个子质量评估指标对应的评分值； 所述一阶Bragg峰相关指标包括4个子质量评估指标，分别为：回波完备系数B1、近距离信噪比B2、远距离信噪比B3、最大探测距离B4； 所述射频干扰相关指标包括4个子质量评估指标，分别为：海洋回波影响因子R1、干扰噪声比R2、距离影响因子R3、多普勒影响因子R4； 所述电离层杂波相关指标包括4个子质量评估指标，分别为：海洋回波影响因子I1、干扰噪声比I2、距离影响因子I3、多普勒影响因子I4； 根据Flag表示检测标志位、检测框高度占比High确定所述一阶Bragg峰的相关指标：回波完备系数B1、近距离信噪比B2、远距离信噪比B3、最大探测距离B4； 回波完备系数B1： 其中，N0为检测结果中标志位0的个数，即检测到Bragg峰的数量；N为理论上Bragg峰的数量； 近距离信噪比B2： 其中，为噪底平均功率，为近距离海洋回波峰值功率，近距离为雷达海洋回波探测距离的20％，即其中LRange为雷达有效探测距离； 远距离信噪比B3： 其中，为噪底平均功率，为远距离海洋回波峰值功率，远距离为雷达海洋回波探测距离的80％，即其中LRange为雷达有效探测距离； 最大探测距离B4： 按场获取每场待评估雷达数据； 将所述每场待评估雷达数据分别输入所述评估模型，分别得到每场雷达数据对应的综合评分。

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