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龙图腾网获悉深圳市中兴微电子技术有限公司申请的专利一种JTAG控制装置及实现JTAG控制的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112578272B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201910945322.6，技术领域涉及：G01R31/3185；该发明授权一种JTAG控制装置及实现JTAG控制的方法是由彭敏强设计研发完成，并于2019-09-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种JTAG控制装置及实现JTAG控制的方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种JTAG控制装置及实现JTAG控制的方法，本申请JTAG控制装置简单地实现了支持多个子JTAGTAP测试控制电路连接到主TAP控制电路，有效地实现了JTAG测试。本申请主从结构的JTAG控制装置具有很好的扩展性，理论上可以挂载无限多个从TAP控制单元。

本发明授权一种JTAG控制装置及实现JTAG控制的方法在权利要求书中公布了：1.一种联合测试行为组织JTAG控制装置，包括：主测试访问端口TAP控制单元、至少一个从TAP控制单元； 其中，主TAP控制单元至少包括：TAP控制模块、使能操作控制模块、选择模块；其中， TAP控制模块，用于连接芯片JTAG接口；根据从TAP控制单元的数量确定使能信号和输出选择信号的比特位数； 使能操作控制模块，用于根据使能信号和输出选择信号的比特位数，进行使能信号和输出选择信号的配置； 选择模块，用于根据使能信号和输出选择信号，实现多路输入的信号的输出选择； 其中，从TAP控制单元至少包括：转换模块、测试控制模块；其中， 转换模块，用于实现主TAP控制单元和从TAP控制单元的JTAGTAP测试控制电路的接口转换； 测试控制模块，用于在自身所属从TAP控制单元被使能后，对已经产生JTAG测试控制向量进行DFT测试控制，并将JTAG测试控制向量通过转换模块映射到选择模块； 所述主TAP控制单元还包括：数据操作控制模块，所述数据操作控制模块包括：指令寄存器组、指令比较存储电路、第一指令比较电路、第二指令比较电路、判决电路；其中， 指令寄存器组，用于与所述TAP控制模块连接，连接信号包括TAP控制模块的指令编码操作信号；存储所加载的IR指令； 第一指令比较电路，其中预设有期望指令编码，在第一IR指令加载完成后，与预设的期望指令编码进行比较并向指令比较存储电路输出第一比较结果信号； 指令比较存储电路，受指令寄存器组控制，当加载下一条IR指令前，上一条IR指令的第一比较结果信号会被锁存到指令比较存储电路中； 第二指令比较电路，其中预设有期望指令编码，在第二IR指令加载完成后与预设的期望指令编码进行比较并向指令比较存储电路输出比较结果信号； 判决电路，用于接收来自指令比较存储电路的第一比较结果信号和来自第二指令比较电路的第二比较结果信号，当二者均使能时，确定使能所述使能操作控制模块并输出使能控制信号。

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