广州艾目易科技有限公司关沛峰获国家专利权
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龙图腾网获悉广州艾目易科技有限公司申请的专利反光标记物质量评估方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115830109B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211182038.6，技术领域涉及：G06T7/73；该发明授权反光标记物质量评估方法、装置、设备及存储介质是由关沛峰设计研发完成，并于2022-09-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本反光标记物质量评估方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请涉及光学定位技术领域，提供一种反光标记物质量评估方法、装置、设备及存储介质，方法包括：获取相机对反光标记物进行拍摄得到的图像；确定所述图像中的光斑区域；计算所述光斑区域的圆度；计算所述光斑区域的亮度；根据所述光斑区域的亮度和所述光斑区域的圆度对所述反光标记物的质量进行评估，得到所述反光标记物的质量评估结果。本申请实施例实现了对反光标记物的质量进行评估，从而可以根据质量评估结果判定其是否可以继续使用。
本发明授权反光标记物质量评估方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种反光标记物质量评估方法，其特征在于，包括： 获取相机对反光标记物进行拍摄得到的图像； 确定所述图像中的光斑区域； 计算所述光斑区域的圆度； 计算所述光斑区域的亮度； 根据所述光斑区域的亮度和所述光斑区域的圆度对所述反光标记物的质量进行评估，得到所述反光标记物的质量评估结果； 所述计算所述光斑区域的亮度，包括： 统计所述光斑区域中灰度值大于第二设定阈值的像素点的数目； 统计所述光斑区域中灰度值在第三设定阈值和第二设定阈值之间的像素点的数目； 统计所述光斑区域中灰度值在第一设定阈值和第三设定阈值之间的像素点的数目； 根据公式L＝A*2+B*1.5A+B+C*1.5计算得到所述光斑区域的亮度；其中，A表示光斑区域中灰度值大于第二设定阈值的像素点的数目、B表示光斑区域中灰度值在第三设定阈值和第二设定阈值之间的像素点的数目、C表示光斑区域中灰度值在第一设定阈值和第三设定阈值之间的像素点的数目。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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