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龙图腾网获悉中国原子能科学研究院申请的专利一种核材料滞留量分析的探测效率校正方法及探测器获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115932941B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211535385.2，技术领域涉及：G01T7/00；该发明授权一种核材料滞留量分析的探测效率校正方法及探测器是由李育蓉;何丽霞;王思佳;王晶设计研发完成，并于2022-12-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种核材料滞留量分析的探测效率校正方法及探测器在说明书摘要公布了：本发明属于核材料滞留量测量分析技术领域，具体涉及一种核材料滞留量分析的探测效率校正方法及探测器，其中的方法包括如下步骤：步骤S1，建立与探测对象相适应的数学模型；步骤S2，获取环境本底和探测对象的γ能谱；步骤S3，分析γ能谱中的特征γ射线的全能峰面积；步骤S4，扣除环境本底的贡献得到核材料滞留量的特征γ射线的计数率；步骤S5，进行本征探测效率确定；步骤S6，进行几何探测效率确定；步骤S7，进行衰减吸收效率校正，获得衰减校正参数；步骤S8，引入衰减校正参数计算核材料滞留量。

本发明授权一种核材料滞留量分析的探测效率校正方法及探测器在权利要求书中公布了：1.一种核材料滞留量分析的探测效率校正方法，包括如下步骤： 步骤S1，建立与探测对象相适应的数学模型，所述数学模型包括针对第一放射源的虚拟的第一放射源模型、针对探测器的虚拟的探测器模型和针对所述探测对象的虚拟的探测对象模型； 步骤S2，利用所述探测器获取环境本底的γ能谱，利用所述探测器获取所述探测对象中的核材料滞留量γ能谱； 步骤S3，分析所述环境本底的γ能谱中的特征γ射线的全能峰面积，所述特征γ射线是指所述探测对象中的核材料滞留量中的核素发射的特定能量的γ射线； 步骤S4，扣除所述环境本底后，分析所述核材料滞留量γ能谱中的特征γ射线的全能峰面积，得到所述核材料滞留量的所述特征γ射线的净计数率； 步骤S5，利用所述第一放射源模型、所述探测器模型和所述探测对象模型，对所述探测器进行本征探测效率确定，建立所述特征γ射线的本征探测效率函数； 步骤S6，利用所述第一放射源模型、所述探测器模型和所述探测对象模型，确定源探在空间上各相互位置的几何探测效率，建立所述特征γ射线与核材料滞留量几何结构相关的几何探测效率函数； 步骤S7，根据所述探测对象的物理参数，引入所述核材料滞留量的所述特征γ射线的衰减校正参数；所述探测对象的物理参数包括材质、形状和尺寸； 步骤S8，对所述净计数率进行衰减吸收效率校正，利用所述本征探测效率和所述几何探测效率进一步校正，计算所述核材料滞留量。

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