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龙图腾网获悉复旦大学申请的专利一种宽带太赫兹电光采样准相位匹配结构及其设计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115963672B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310021640.X，技术领域涉及：G02F1/35；该发明授权一种宽带太赫兹电光采样准相位匹配结构及其设计方法是由田传山;汪语涵;马骏颖;乐嘉明;苏雨聃设计研发完成，并于2023-01-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种宽带太赫兹电光采样准相位匹配结构及其设计方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种宽带太赫兹电光采样准相位匹配结构，包括依次层叠布置的至少两个电光晶体，每两个相邻的电光晶体之间均设置有补偿晶体；其中，电光晶体与补偿晶体具有相反的色散关系，以便于通过补偿晶体来补偿太赫兹光与探测光在电光晶体中积累的相位差。本发明根据需要选定电光晶体的种类和厚度，并选定一种具有和电光晶体相反色散关系的补偿晶体，并依据测量带宽及相位匹配条件计算其厚度，再根据测量带宽要求确定电光晶体的层数。与现有技术相比，本发明能够在保证信号强度的同时拓宽测量带宽，本发明不涉及精密微纳加工、成本低易于制作、不对晶体进行破坏性加工、可重复使用、可根据需要重新组合搭配，灵活度高。

本发明授权一种宽带太赫兹电光采样准相位匹配结构及其设计方法在权利要求书中公布了：1.一种用于宽带太赫兹电光采样准相位匹配结构的设计方法，其特征在于：所述结构包括依次层叠布置的至少两个电光晶体，每两个相邻的所述电光晶体之间均设置有补偿晶体；其中，所述电光晶体与所述补偿晶体具有相反的色散关系，以便于通过所述补偿晶体来补偿太赫兹光与探测光在所述电光晶体中积累的相位差； 所述方法包括以下步骤： S1、获取太赫兹光的频率Ω及探测光的频率ω； S2、确定所述电光晶体的类型，以及所述太赫兹光、所述探测光分别在所述电光晶体中的太赫兹折射率nTHz,1、探测光群折射率ng,1； S3、根据式1及式2确定所述电光晶体的厚度； lc=式1； C式2； 其中，式1根据电光晶体的相位匹配条件得到，lc为所述电光晶体能够对信号进行叠加增强的相干长度，c为真空光速，C为电光晶体产生信号的大小，l1为所述电光晶体的厚度且不超过相干长度lc的4倍，i为虚数单位； S4、选定所述补偿晶体的类型，以及所述太赫兹光、所述探测光分别在所述补偿晶体中的太赫兹折射率nTHz,2、探测光群折射率ng,2； S5、根据式3确定所述补偿晶体的厚度； Δk=Ωcng,1l1-ng,2l2-nTHz,1l1+nTHz,2l2式3； 其中，Δk为波数差，其取值趋近于0，l2为所述补偿晶体的厚度。

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