上海华虹宏力半导体制造有限公司奚凯华获国家专利权
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龙图腾网获悉上海华虹宏力半导体制造有限公司申请的专利芯片测试工具获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116183984B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310149033.1，技术领域涉及：G01R1/067；该发明授权芯片测试工具是由奚凯华设计研发完成，并于2023-02-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本芯片测试工具在说明书摘要公布了：本发明提供了一种芯片测试工具，包括：板卡，包括至少两个测试模块，每个所述测试模块均包括多个探针，每个所述探针均用于连接一个芯片，以对所述芯片的功能数据进行测试，所有所述测试模块的所有探针同时对所述芯片的功能数据进行测试；监测模块，与所述测试模块的数量相等，一个所述监测检测模块与一个测试模块连接，用于监测芯片的功能数据是否达标。本发明通过将板卡上的探针分成多个测试模块，测试模块之间的相对设置可以根据晶圆上所有芯片的设置调节，并且每个测试模块对应一个监控模块，所以测试模块的设置不用收到监控模块的限制。因此，本发明能使扎针更稳定，且适应了不同设置情况的芯片测试。
本发明授权芯片测试工具在权利要求书中公布了：1.一种芯片测试工具，其特征在于，包括： 板卡，包括至少两个测试模块，每个所述测试模块均包括多个探针，每个所述探针均用于连接一个芯片，以对所述芯片的功能数据进行测试，所有所述测试模块的所有探针同时对所述芯片的功能数据进行测试； 监测模块，与所述测试模块的数量相等，一个所述监测模块与一个测试模块连接，用于监测芯片的功能数据是否达标。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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