中国科学院大连化学物理研究所金盛烨获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院大连化学物理研究所申请的专利背面激发-正面探测TR和薄膜纵向扩散系数的测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116263403B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111515391.7，技术领域涉及：G01N21/33；该发明授权背面激发-正面探测TR和薄膜纵向扩散系数的测量方法是由金盛烨;赵胜利;冷静设计研发完成，并于2021-12-13向国家知识产权局提交的专利申请。
本背面激发-正面探测TR和薄膜纵向扩散系数的测量方法在说明书摘要公布了：本发明公开了背面激发‑正面探测TR和薄膜纵向扩散系数的测量方法，是一种钙钛矿薄膜纵向扩散系数的瞬态反射测量方法，属于测试方法领域。本发明利用背面激发‑正面探测的瞬态反射光谱技术，实现钙钛矿薄膜纵向载流子扩散动力学的直接观测，是一种新的瞬态反射光谱手段，用于研究载流子纵向扩散的问题。背面激发‑正面探测TR可实现薄膜中纵向载流子扩散的直接观测，对于厚度为1.2um的钙钛矿薄膜而言，可以看到TR信号有～2000ps的上升沿，代表载流子从激发面扩散到探测面。通过自主探索的背面激发‑正面探测TR实验结果拟合得到的扩散系数D为1.47cm2s，接近单晶的扩散系数，与SEM显示的纵向上单个晶粒相一致。
本发明授权背面激发-正面探测TR和薄膜纵向扩散系数的测量方法在权利要求书中公布了：1.一种背面激发-正面探测瞬态反射TR和薄膜纵向扩散系数的测量方法，其特征在于：钙钛矿薄膜样品的厚度在1um-2um，泵浦光从薄膜样品背面入射，入射角在0-30°之间，探测光从薄膜样品正面入射，入射角在30-90°之间，薄膜样品上反射的探测光进入检测器获得TR光谱，通过TR解析获得钙钛矿薄膜纵向扩散系数，使用一维扩散模型，通过拟合不同激发波长的TR动力学可以提取纵向扩散系数D和表面复合速率S。
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