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龙图腾网获悉思诺威科技(无锡)有限公司申请的专利一种应用于相控阵射频芯片的片上自测试电路架构及片上自测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116359707B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310343764.X，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种应用于相控阵射频芯片的片上自测试电路架构及片上自测试方法是由李治;诸小胜;姜源;王镇;王永利设计研发完成，并于2023-04-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种应用于相控阵射频芯片的片上自测试电路架构及片上自测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种应用于相控阵射频芯片的片上自测试电路架构及片上自测试方法，包括测试信号源产生电路，用于产生注入相控阵射频芯片主信号链的信号，和为本振电路提供输入信号；本振电路，用于根据测试信号源产生电路提供的输入信号，产生提供给信号处理电路的正交本振；信号处理电路，用于对来自相控阵射频芯片主信号链的信号进行增益调整，以及将增益调整后的信号和正交本振进行正交混频，得到处理后的信号，从处理后的信号中获取相控阵射频芯片主信号链的增益信息和相位信息，依据相控阵射频芯片主信号链的增益信息和相位信息，完成对相控阵射频芯片主信号链的增益切换性能、移相器性能、通道失配性能和绝对增益性能的测试。

本发明授权一种应用于相控阵射频芯片的片上自测试电路架构及片上自测试方法在权利要求书中公布了：1.一种应用于相控阵射频芯片的片上自测试电路架构，其特征在于：包括：片上自测试电路和信号耦合网络；所述片上自测试电路通过信号耦合网络向相控阵射频芯片主信号链注入信号Signal_In，以及该片上自测试电路通过信号耦合网络接收来自相控阵射频芯片主信号链的信号Signal_Out； 所述片上自测试电路包括： 测试信号源产生电路，用于产生注入相控阵射频芯片主信号链的信号Signal_In，和为本振电路提供输入信号； 本振电路，用于根据测试信号源产生电路提供的输入信号，产生提供给信号处理电路的正交本振； 信号处理电路，用于对来自相控阵射频芯片主信号链的信号Signal_Out进行增益调整，以及将增益调整后的信号Signal_Out和正交本振进行正交混频，得到处理后的信号，所述处理后的信号中包含相控阵射频芯片主信号链的增益信息和相位信息； 所述信号处理电路由依次连接的可变增益放大器和正交混频器构成，所述正交混频器接收来自本振电路的正交本振，对增益调整后的信号Signal_Out进行正交混频； 所述片上自测试电路还包括接收链路开关网络和发射链路开关网络； 当相控阵射频芯片主信号链处于接收模式时，测试信号源产生电路通过接收链路开关网络和信号耦合网络向相控阵射频芯片主信号链注入信号Signal_In，混频采样信号处理电路通过信号耦合网络和接收链路开关网络接收来自相控阵射频芯片主信号链的信号Signal_Out； 当相控阵射频芯片主信号链处于发射模式时，测试信号源产生电路通过发射链路开关网络和信号耦合网络向相控阵射频芯片主信号链注入信号Signal_In，混频采样信号处理电路通过信号耦合网络和发射链路开关网络接收来自相控阵射频芯片主信号链的信号Signal_Out。

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