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龙图腾网获悉上海交通大学申请的专利中子衍射同步检测织构和应力的方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116380955B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310296747.5，技术领域涉及：G01N23/207；该发明授权中子衍射同步检测织构和应力的方法和系统是由钟圣怡;王柏桦;林皓;翟昊宇;盛普聪设计研发完成，并于2023-03-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本中子衍射同步检测织构和应力的方法和系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种中子衍射同步检测织构和应力的方法和系统，包括：步骤1：获取各相的晶体结构类型和中子衍射检测织构所需极图数目及晶面；步骤2：进行中子衍射检测，得到材料织构信息；步骤3：获取待测织构分量及待测晶面，计算待测织构分量的待测晶面在对应晶面极图中的具体位置；步骤4：获取检测织构的晶面极图、极图扫描范围及扫描步长；步骤5：进行中子衍射数据采集；步骤6：计算材料不同织构分量的三维内应力场；步骤7：将得到的中子衍射数据投影至晶面极图，并利用晶体结构的对称性及数学过程将其补全为完整的晶面极图。本发明程度降低了织构‑应力同步检测的工作量，提高了织构‑应力同步检测效率。

本发明授权中子衍射同步检测织构和应力的方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种中子衍射同步检测织构和应力的方法，其特征在于，包括： 步骤1：判定待测材料为单相或多相，获取各相的晶体结构类型和中子衍射检测织构所需极图数目及晶面； 步骤2：进行中子衍射检测，得到材料织构信息； 步骤3：获取待测织构分量及待测晶面，计算待测织构分量的待测晶面在对应晶面极图中的具体位置； 步骤4：获取检测织构的晶面极图、极图扫描范围及扫描步长； 步骤5：进行中子衍射数据采集，若开展原位中子衍射实验，待原位加载条件达到设定值后再进行中子衍射数据采集； 步骤6：计算材料不同织构分量的三维内应力场； 步骤7：将得到的中子衍射数据投影至晶面极图，并利用晶体结构的对称性及数学过程将其补全为完整的晶面极图； 所述步骤4包括： 步骤4.1：选取多个晶面族的极图并进行检测，得到部分晶面极图； 步骤4.2：利用待测织构分量的晶体结构类型的对称性，将中子衍射检测得到的部分晶面极图补全为一幅完整的晶面极图，计算所需最小角扫描范围； 步骤4.3：根据最小角扫描范围以及待测织构分量的待测晶面在晶面极图中的具体位置，确定满足同时检测织构和不同织构分量的三维内应力场要求的角扫描范围的最小并集；扫描步长根据点的具体位置和密度而定。

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