武汉高德智感科技有限公司黄晟获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉高德智感科技有限公司申请的专利一种测量镜头畸变的方法和系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116754186B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310526189.7,技术领域涉及:G01M11/02;该发明授权一种测量镜头畸变的方法和系统是由黄晟;龚忠毅;叶龙;崔昌浩;周汉林;李林设计研发完成,并于2020-09-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种测量镜头畸变的方法和系统在说明书摘要公布了:一种测量镜头畸变的方法,包括:判断靶标是否对齐;根据镜头焦距、设备与靶标的距离,利用模板匹配算法,得到畸变测量值;其中,靶标设置十字光标用于计算畸变镜头畸变。本发明将红外镜头畸变的测量方法与MTF测量方法相结合,可同时测量红外镜头畸变与MTF指标。相较于现有技术而言,可同时完成操作简单;通过倾斜边缘法测量MTF值,不需要不同空间频率的光栅靶标,节省成本。
本发明授权一种测量镜头畸变的方法和系统在权利要求书中公布了:1.一种测量镜头畸变的方法,其特征在于,包括: S100.判断靶标是否对齐;S100包括: S101.将设备与靶面之间的距离固定后,计算靶面中心正方形两条垂直的边的斜率和偏移的理论值; S102.对热像仪画面进行直线检测,计算画面中正方形两条垂直的边的斜率和偏移的实际值; S103.根据斜率和偏移的理论值与实际值的差值判断靶标是否足够接近,若理论值与实际值差异小于预设阈值,则靶标对齐,若理论值与实际值差异大于预设阈值,则靶标未对齐; S200.根据镜头焦距、设备与靶标的距离,利用模板匹配算法,得到畸变测量值;其中,靶标设置十字光标用于计算畸变镜头畸变。
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