北京中仪智控科技有限公司李勇获国家专利权
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龙图腾网获悉北京中仪智控科技有限公司申请的专利粮食毛粮杂质的评估方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121409906B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511983754.8，技术领域涉及：G01N21/359；该发明授权粮食毛粮杂质的评估方法及装置是由李勇;史策;王叶芬设计研发完成，并于2025-12-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本粮食毛粮杂质的评估方法及装置在说明书摘要公布了：本申请实施例提供一种粮食毛粮杂质的评估方法及装置，通过创新性地设计多特征融合模型，通过外观分析和光谱检测，实现谷物品种的准确识别。构建多级筛分体系，结合风选分离，建立可靠的杂质分离机制。引入代表性取样，通过形态分析和质量计算，确保杂质评估的准确性。该方法有效解决了传统技术在特征识别、杂质分离和含量评估等方面的不足，为粮食质量检测提供了技术保障。
本发明授权粮食毛粮杂质的评估方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种粮食毛粮杂质的评估方法，其特征在于，所述方法包括： 采集待测谷物样品的外观特征数据与近红外光谱数据，将所述外观特征数据中的颜色特征、纹理特征、形状特征输入品种识别模型，结合所述近红外光谱数据进行谷物品种识别，根据识别结果调取预设的筛孔尺寸参数、风选风速参数、筛面倾角参数，将所述待测谷物样品投入多级筛分系统； 基于所述筛孔尺寸参数、风选风速参数、筛面倾角参数对所述待测谷物样品进行多级筛分，通过上层筛分离大型杂质得到筛上物，通过中层筛分离正常谷物颗粒，通过下层筛分离细小杂质得到筛下物，对中层筛分离的谷物颗粒进行风选分离得到轻质杂质，剩余物料作为半净粮样品，对所述半净粮样品进行均匀化处理后提取代表性试样； 将所述代表性试样输入并肩杂识别模型，基于形态特征与颜色特征识别不完善粒与异种粮粒，将识别出的不完善粒与异种粮粒进行分类称重，计算所述代表性试样中异种粮粒的质量比例，将所述质量比例与半净粮样品质量相乘得到半净粮杂质质量，将所述半净粮杂质质量与筛上物质量、筛下物质量、轻质杂质质量相加后除以待测谷物样品总质量，得到总杂质含量。
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