杭州烽和智能科技有限公司魏新获国家专利权
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龙图腾网获悉杭州烽和智能科技有限公司申请的专利一种粒子压痕检测设备用对位校正装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN224004899U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-17发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202520489341.3，技术领域涉及：G01N15/00；该实用新型一种粒子压痕检测设备用对位校正装置是由魏新;刘会祥;彭池榨;钟力行设计研发完成，并于2025-03-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种粒子压痕检测设备用对位校正装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种粒子压痕检测设备用对位校正装置，包括对位相机组件和检测调整平台，对位相机组件包括滑座、与滑座配合的第一丝杠、与第一丝杠配合的滑块、设置在滑块上的对位相机以及与第一丝杠连接的手轮，通过转动手轮带动滑块沿滑座进行移动该装置通过滑座、丝杠、滑块等精密机械结构，使得对位相机组件能够根据实际情况进行精确的位置调节，同时，使用手轮转动带动第一丝杠进行转动的操作方式直观且易于掌握，降低了操作难度，提高调节过程中的稳定性和调节的效率，确保对位相机在检测过程中能够准确地对准待检测的粒子压痕，从而提高检测的精度和效率。
本实用新型一种粒子压痕检测设备用对位校正装置在权利要求书中公布了：1.一种粒子压痕检测设备用对位校正装置，包括 对位相机组件； 检测调整平台，设置在所述对位相机组件的一侧； 其特征在于：所述对位相机组件包括滑座、与所述滑座配合的第一丝杠、与所述第一丝杠配合的滑块、设置在所述滑块上的对位相机以及与所述第一丝杠连接的手轮，通过转动所述手轮带动所述滑块沿所述滑座进行移动。
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