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龙图腾网获悉中国科学院微电子研究所;真芯(北京)半导体有限责任公司申请的专利一种测试元件组及其测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115019873B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110245776.X，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种测试元件组及其测试方法是由孙永载;杨红;杨涛;李俊杰;王文武;陈睿设计研发完成，并于2021-03-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种测试元件组及其测试方法在说明书摘要公布了：本申请公开了一种测试元件组及测试方法，测试元件组包括：多个输出驱动器，每个输出驱动器的IO节点端与存储器的一个数据IO端电性连接，用于测试数据IO端输出信号质量，每个输出驱动器包括上拉驱动器和下拉驱动器；上拉驱动器包括多个P型晶体管，下拉驱动器包括多个N型晶体管。通过设计多个输出驱动器分别与存储器的DQ端电连接，由存储器的DQ端分别输入高电平和低电平，并选择性导通输出驱动器中的不同晶体管，从而可测量得到多个电流值，由于这些电流值能反映单个DQ端的输出信号质量，从而可精准判断出单个DQ端输出信号质量好坏，且本申请在TEG阶段便能很早的检测出芯片问题，以进行芯片端面修正，节省测试费用与时间。

本发明授权一种测试元件组及其测试方法在权利要求书中公布了：1.一种测试元件组，其特征在于，用于测试存储器的数据输入输出IO端，包括： 至少一个输出驱动器，每个输出驱动器的IO节点端用于与所述存储器的一个数据IO端电性连接，并且每个输出驱动器包括上拉驱动器和下拉驱动器；所述上拉驱动器包括多个P型晶体管，所述下拉驱动器包括多个N型晶体管； 控制器和解码器，所述控制器与所述解码器电性连接，所述解码器与每个输出驱动器的控制端电性连接； 所述控制器，用于向所述解码器发送输出驱动器的选择信号； 所述解码器，用于解码所述选择信号，以确定被选择的输出驱动器，并向被选择的输出驱动器的控制端发送不同的控制信号，使得下拉驱动器包括的多个N型晶体管和上拉驱动器包括的多个P型晶体管轮流导通，进而测量IO节点端的电流值；其中，当所述存储器的数据IO端向被选择的输出驱动器输入一高电平时，所述不同的控制信号用于控制该输出驱动器中的下拉驱动器包括的多个N型晶体管轮流导通；当所述存储器的数据IO端向被选择的输出驱动器输入一低电平时，所述不同的控制信号用于控制该输出驱动器中的上拉驱动器包括的多个P型晶体管轮流导通。

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