恩德莱斯和豪瑟尔欧洲两合公司阿伦·尚卡尔·文卡泰什·耶尔获国家专利权
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龙图腾网获悉恩德莱斯和豪瑟尔欧洲两合公司申请的专利用于校准辐射测量密度测量设备的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115201061B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210332374.8，技术领域涉及：G01N9/24；该发明授权用于校准辐射测量密度测量设备的方法是由阿伦·尚卡尔·文卡泰什·耶尔;纳西斯·米歇尔·尼茨基厄加德乌;西蒙·魏登布鲁赫;约恩·朗热;塞巴斯蒂安·伊曼设计研发完成，并于2022-03-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于校准辐射测量密度测量设备的方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种用于校准辐射测量密度测量设备的方法。辐射测量设备用于确定和或监视位于容器1中的介质6的密度。方法包括以下方法步骤：基于发送单元3的活度来确定放射性辐射在已经穿过空容器1之后的计数率N0；当已知密度的校准介质位于容器1中时，确定放射性辐射在已经穿过容器1之后的测量计数率N，根据公式μ＝‑lnNN0ρ1D确定质量衰减系数μ，其中D：放射性辐射的波束路径或容器1的内径，ρ1：校准介质的密度；计算校准曲线，其表示介质的密度对在辐射已经穿过容器1之后的测量辐射密度的计数率的依赖性。
本发明授权用于校准辐射测量密度测量设备的方法在权利要求书中公布了：1.一种用于校准辐射测量设备的方法，所述辐射测量设备用于确定和或监视位于容器1中的介质6的密度，发送单元3和接收单元4被提供，所述发送单元3发射预定强度的放射性辐射，并且所述接收单元4接收在所述放射性辐射已经穿过所述介质6之后由所述发送单元3发射的放射性辐射，并且控制评估单元7被提供，所述控制评估单元7基于由所述接收单元4所测量的强度来确定位于所述容器1中的介质6的密度，所述方法具有以下方法步骤： ●基于所述发送单元3的活度来确定所述放射性辐射在已经穿过空容器之后的计数率， ●当已知密度的校准介质位于所述容器1中时，确定所述放射性辐射在已经穿过所述容器1之后的测量计数率N， ●根据公式确定质量衰减系数μ，其中D：所述放射性辐射的波束路径或所述容器1的内径，ρ1：所述校准介质的密度， ●计算校准曲线，所述校准曲线表示所述介质的密度对在所述放射性辐射已经穿过所述容器1之后的测量辐射密度的计数率的依赖性。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人恩德莱斯和豪瑟尔欧洲两合公司，其通讯地址为：德国毛尔堡；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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