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龙图腾网获悉上海镭望光学科技有限公司申请的专利一种基于光强度的波片延迟量及快轴测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115575097B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211192545.8，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权一种基于光强度的波片延迟量及快轴测量方法是由徐磊;朱玲琳;曾爱军;黄惠杰设计研发完成，并于2022-09-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于光强度的波片延迟量及快轴测量方法在说明书摘要公布了：一种基于光强度的波片延迟量及快轴测量方法，包括步骤：将起偏器、检偏器和光强探测器沿光路方向同光轴放置；标定同光轴放置后的0°偏振位置；将待测波片插入起偏器和检偏器之间，将起偏器从0°偏振位置开始旋转一周，产生一组变化的出射光强度曲线，通过光强探测器记录所述一组变化的出射光强度曲线，并对记录的所述一组变化的出射光强度曲线进行曲线拟合，获取待测波片延迟量和快轴角度。由于采用光强度式测量方案，避免了对某一角度下光强度具体值的获取，转而采用曲线拟合的方式进行参数求值；且随着采集信号数目的增多，本申请可实现非常高精度的波片参数测量。

本发明授权一种基于光强度的波片延迟量及快轴测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于光强度的波片延迟量及快轴测量方法，其特征在于，包括步骤： 将起偏器、检偏器和光强探测器沿光路方向同光轴放置，其中，所述起偏器的入射光源为退偏光，即起偏器转至任意角度输出光强度不变； 标定同光轴放置后的0°偏振位置，具体包括步骤：保持起偏器、检偏器和光强探测器的位置不变，将起偏器旋转一周，通过所述光强探测器记录出射光强度随起偏器旋转一周所产生的出射光强度曲线，对所述出射光强度曲线进行拟合，将出射光强度曲线的峰值位置所对应的起偏器角度设为所述检偏器的透射方向，并将该方向标定为0°偏振位置； 将待测波片插入起偏器和检偏器之间，将所述起偏器从所述0°偏振位置开始旋转一周，产生一组变化的出射光强度曲线，通过所述光强探测器记录所述一组变化的出射光强度曲线，并对记录的所述一组变化的出射光强度曲线进行曲线拟合，获取待测波片延迟量和快轴角度；其中，所述出射光强度曲线的表达式为： Iout＝iin[1+cos22θ+sin22θcosδcos2x+sin2θcos2θ1-cosδsin2x]； 其中，Iout为出射光强度，iin为入射光强度，δ为波片延迟量，θ为快轴角度，x为起偏器与所述0°偏振位置之间的夹角，iin、δ和θ均为未知参数。

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