上海复享光学股份有限公司贺晓龙获国家专利权
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龙图腾网获悉上海复享光学股份有限公司申请的专利光谱仪杂散光校正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115790848B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211687176.X，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权光谱仪杂散光校正方法是由贺晓龙;王婷婷;胡松婷;崔靖;殷海玮设计研发完成，并于2022-12-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本光谱仪杂散光校正方法在说明书摘要公布了：发本明涉及一种光谱仪杂散光校正方法，包括步骤：将具有已知强度分布的m个连续光谱射入待校正光谱仪中，利用所述待校正光谱仪测得所述m个连续光谱的实际光谱强度分布，其中，m为大于等于1的自然数；利用压缩感知算法以所述m个实际光谱强度求解所述待校正光谱仪的杂散光矩阵，所述杂散光矩阵的维度为n×nn为预设的自然数，且m＜n。本发明调试简单、快速，且调试精确度高，可支持多种入射光源，能够更全面地实现光谱仪的像面重合优化。本发明利用远小于杂散光校正矩阵信号维度的有限波段光谱即可快速计算出杂散光校正矩阵，大大减少了测试所需的光谱采样率，降低了设备成本，提高了测量效率，并保证了校正精度。
本发明授权光谱仪杂散光校正方法在权利要求书中公布了：1.一种光谱仪杂散光校正方法，其特征在于，包括步骤： 将具有已知强度分布的m个连续光谱射入待校正光谱仪中，利用所述待校正光谱仪测得所述m个连续光谱的实际光谱强度分布，其中，m为大于等于1的自然数； 利用压缩感知算法以所述m个实际光谱强度求解所述待校正光谱仪的杂散光矩阵，所述杂散光矩阵的维度为n×nn为预设的自然数，且mn；其中， 提供预测的杂散光范围，所述杂散光范围是对杂散光矩阵中部分或全部元素的预测范围，若在求解所述杂散光矩阵的过程中得到了两个以上的解，则以所述杂散光范围为限制条件选择最符合所述限制条件的解作为所述杂散光矩阵。
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