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龙图腾网获悉中国工程物理研究院激光聚变研究中心申请的专利一种X光时间分辨记录系统能谱响应标定方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116908906B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310905947.6，技术领域涉及：G01T7/00；该发明授权一种X光时间分辨记录系统能谱响应标定方法是由张玉雪;张志宇;张继彦;杨家敏;赵阳;青波;胡希瑶;孙奥;杨国洪;朱托;宋天明;黄成武;熊刚;吕敏;赵妍;李丽灵;张璐;李晋;韦敏习设计研发完成，并于2023-07-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种X光时间分辨记录系统能谱响应标定方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种X光时间分辨记录系统能谱响应标定方法，S1：利用脉冲激光轰击丝状靶端面，激光烧蚀产生X光光源；S2：以所述丝状靶轴线，在空间内轴对称布置不同类别的晶体谱仪，晶体谱仪至少包括静态晶体谱仪、条纹晶体谱仪和门控晶体谱仪，其中，所述静态晶体谱仪的记录介质响应特性已知或者已精确标定，所述条纹晶体谱仪和门控晶体谱仪为记录设备响应特性待标定的时间分辨晶体谱仪；S3：线下在同步辐射或实验室X光光源平台上对各个所述晶体谱仪使用的记录介质的能谱响应标定，获得标定曲线；S4，以各晶体谱仪测量光谱数据以及晶体、滤片、IP、胶片或CCD等组件的线下标定数据为已知量。

本发明授权一种X光时间分辨记录系统能谱响应标定方法在权利要求书中公布了：1.一种X光时间分辨记录系统能谱响应标定方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：利用脉冲激光轰击丝状靶端面，激光烧蚀产生小尺度、近轴对称X光光源； S2：以所述丝状靶轴线，在空间内轴对称布置不同类别的晶体谱仪，晶体谱仪至少包括静态晶体谱仪、条纹晶体谱仪和门控晶体谱仪，其中，所述静态晶体谱仪的记录介质响应特性已知或者已精确标定，所述条纹晶体谱仪和门控晶体谱仪为记录设备响应特性待标定的时间分辨晶体谱仪； S3：线下在同步辐射或实验室X光光源平台上对各个所述晶体谱仪使用的记录介质的能谱响应标定，获得标定曲线； S4，获取条纹相机、分幅相机的能谱响应标定数据，具体标定方法及数据处理如下： S4.1：来自相同时段、相同空间的光源信号、记录设备记录的光谱信号、诊断系统的整体能谱响应函数三者满足关系式： ……1； ……2； 以上为对应能点的X光光子频率；T1为晶体谱仪前置滤片透过率；T2为后置滤片透过率；R为能量相关的晶体积分反射效率；为晶体衍射因子；为由光路几何关系决定的几何因子；Q为记录设备的响应函数共同组成； S4.2：静态晶体谱仪满足关系式，待标定记录设备对应晶体谱仪满足关系式，因此，具有关系式： ……3； 根据公式1、2和3，待标定晶体谱仪的记录系统能谱响应函数关系式为： ……4； S4.3：由实验所测量获得的光谱数据可提供来自相同空间位置、记录相同时段的静态晶体谱仪测量光谱和待标定晶体谱仪测量光谱； 由现有线下标定完成的各个晶体谱仪所采用的记录介质的相同能点或能段的标定工作，可提供三类元件的能谱响应函数，记静态晶体谱仪的前置滤片透过率、后置滤片透过率、能量相关的晶体积分反射效率，晶体衍射因子和IP或胶片记录介质的响应函数，记待标定晶体谱仪的前置滤片透过率、后置滤片透过率、能量相关的晶体积分反射效率和晶体衍射因子； 由晶体谱仪的光路几何关系可提供静态晶体谱仪的几何因子、由待标定晶体谱仪的几何因子响应函数曲线； 获取以上参数后，待标定晶体谱仪的记录系统能谱响应即可利用关系式4求解而得。

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