之江实验室黄欣格获国家专利权
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龙图腾网获悉之江实验室申请的专利射频接头的插损测试方法、系统及装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119535010B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411553117.2,技术领域涉及:G01R27/26;该发明授权射频接头的插损测试方法、系统及装置是由黄欣格;陈志明;张晓航;段然设计研发完成,并于2024-11-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本射频接头的插损测试方法、系统及装置在说明书摘要公布了:本申请是关于一种射频接头的插损测试方法、系统及装置。插损测试方法包括将第一测试电路板在多个频点处的第一散射参数矩阵转换为第一级联参数矩阵;将第二测试电路板在多个频点处的第二散射参数矩阵转换为第二级联参数矩阵,第一传输线和第二传输线的单位长度之差为1;根据每一频点处的第一级联参数矩阵和第二级联参数矩阵,获取每一频点处一段单位长度传输线的第三级联参数矩阵;利用第一测试电路板作为非零长度直通校准件、第二测试电路板作为线校准件,通过TL去嵌入校准方法,获取多个频点处一段单位长度传输线与射频接头级联的第四级联参数矩阵;根据第四级联参数矩阵和第三级联参数矩阵,得到单个射频接头在多个频点处的插损。
本发明授权射频接头的插损测试方法、系统及装置在权利要求书中公布了:1.一种射频接头的插损测试方法,其特征在于,包括: 将第一测试电路板在多个频点处的第一散射参数矩阵转换为第一级联参数矩阵,所述第一测试电路板包括射频接头和第一传输线,所述第一传输线的输出端和输入端分别连接所述射频接头; 将第二测试电路板在多个频点处的第二散射参数矩阵转换为第二级联参数矩阵,所述第二测试电路板包括射频接头和第二传输线,所述第二传输线的输出端和输入端分别连接所述射频接头,所述第一传输线和所述第二传输线的单位长度之差为1; 根据每一频点处的所述第一级联参数矩阵和第二级联参数矩阵,获取所述每一频点处一段单位长度传输线的第三级联参数矩阵; 利用第一测试电路板作为非零长度直通校准件、所述第二测试电路板作为线校准件,通过TL去嵌入校准方法,获取多个频点处一段单位长度传输线与射频接头级联的第四级联参数矩阵; 根据所述第四级联参数矩阵和所述第三级联参数矩阵,得到单个射频接头在多个频点处的插损; 所述根据所述第四级联参数矩阵和所述第三级联参数矩阵,得到单个射频接头在多个频点处的插损,包括: 根据所述第四级联参数矩阵和所述第三级联参数矩阵,得到单个射频接头在多个频点处的第五级联参数矩阵; 将所述第五级联参数矩阵转换为单个射频接头在多个频点处的第三散射参数矩阵; 将所述第三散射参数矩阵中的正向传输系数的幅值进行对数运算,得到射频接头在任一频点处的插损。
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