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龙图腾网获悉南京大学申请的专利一种全斯托克斯偏振计及其制备方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119666155B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411885555.9，技术领域涉及：G01J4/04；该发明授权一种全斯托克斯偏振计及其制备方法是由熊毅丰;徐伊宁;方韶晨;徐飞设计研发完成，并于2024-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种全斯托克斯偏振计及其制备方法在说明书摘要公布了：本发明属于光偏振测量技术领域，公开了一种全斯托克斯偏振计及其制备方法。本发明的全斯托克斯偏振计，包括基底、金属电极、各向异性晶体材料薄膜、绝缘封装材料薄膜；若干对金属电极位于基底上；两对金属电极和一片各向异性晶体材料薄膜构成一个探测单元；每个探测单元中，各向异性晶体材料薄膜覆盖在金属电极上；包括至少两个探测单元，各探测单元中心对称分布于基底上，且皆处于同一平面上；各探测单元的各向异性晶体材料薄膜的晶向之间构成设定的扭转角度；绝缘封装材料薄膜覆盖各向异性晶体材料薄膜。本发明能够识别全偏振的斯托克斯参量，并且具有小型化、集成化、高灵敏度和快速响应的特点，在光纤通信、传感等领域具有广泛的应用前景。

本发明授权一种全斯托克斯偏振计及其制备方法在权利要求书中公布了：1.一种全斯托克斯偏振计，用于获得斯托克斯参数，其特征在于，包括基底、若干对金属电极、各向异性晶体材料薄膜、绝缘封装材料薄膜； 所述若干对金属电极位于所述基底上； 两对所述金属电极和一片所述各向异性晶体材料薄膜构成一个探测单元；每个探测单元中，所述各向异性晶体材料薄膜覆盖在所述金属电极上；所述全斯托克斯偏振计包括至少两个所述探测单元，各探测单元中心对称分布于所述基底上，且皆处于同一平面上；各所述探测单元的各向异性晶体材料薄膜的晶向之间构成设定的扭转角度；所述探测单元为两个，各所述探测单元中金属电极的电极线方向一致，一片各向异性晶体材料薄膜的晶体边界方向与其覆盖的电极的电极线方向一致，另一片各向异性晶体材料薄膜的切割边缘方向与其覆盖的电极的电极线方向一致；或者所述探测单元为三个及以上，各所述探测单元中金属电极的电极线方向中心对称分布，各所述探测单元中的各向异性晶体材料薄膜的晶体边界方向分别与其相应金属电极的电极线方向一致； 所述绝缘封装材料薄膜覆盖所述各向异性晶体材料薄膜。

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