河南信息科技学院筹建处郭晓获国家专利权
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龙图腾网获悉河南信息科技学院筹建处申请的专利星载微波探测仪观测偏差的双重校正方法、系统及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120254789B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510533104.7，技术领域涉及：G01S7/40；该发明授权星载微波探测仪观测偏差的双重校正方法、系统及介质是由郭晓;苗丽晨;崔志伟;贺秋瑞;徐钰航;张世界设计研发完成，并于2025-04-25向国家知识产权局提交的专利申请。
本星载微波探测仪观测偏差的双重校正方法、系统及介质在说明书摘要公布了：本发明实施例公开一种星载微波探测仪观测偏差的双重校正方法、系统及介质，该方法在星载微波探测仪观测偏差第一次校正的基础上引入地表参数，准确的描述星载微波探测仪近地表探测通道和窗区通道的校正残差，实现星载微波探测仪观测偏差的双重校正，使校正后的星载微波探测仪观测亮温更加接近星载微波探测仪模拟亮温。本发明克服了星载微波探测仪近地表探测通道和窗区探测通道的观测偏差特征复杂对星载微波探测仪观测偏差校正效果的不利影响，有效改进星载微波探测仪近地表探测通道和窗区探测通道的观测偏差校正效果。
本发明授权星载微波探测仪观测偏差的双重校正方法、系统及介质在权利要求书中公布了：1.一种星载微波探测仪观测偏差的双重校正方法，其特征在于，包括： 建立用于校正星载微波探测仪观测偏差的第一次校正数据集； 基于所述第一次校正数据集，获取星载微波探测仪的第一次校正亮温； 计算所述第一次校正亮温与星载微波探测仪模拟亮温之间的校正残差； 基于所述校正残差以及地表参数，建立用于校正星载微波探测仪观测偏差的第二次校正数据集；所述地表参数至少包括地表温度、地表湿度、地表压强和地表风速； 基于所述第二次校正数据集，获取星载微波探测仪的第二次校正亮温； 对比所述第一次校正亮温与第二次校正亮温，根据比较结果，完成对所述星载微波探测仪观测偏差的双重校正。
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