北京宽温微电子科技有限公司朱胜兰获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉北京宽温微电子科技有限公司申请的专利基于多模态特征融合与动态优化的集成电路热点检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120951931B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511469044.3，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权基于多模态特征融合与动态优化的集成电路热点检测方法是由朱胜兰;程平设计研发完成，并于2025-10-15向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于多模态特征融合与动态优化的集成电路热点检测方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种基于多模态特征融合与动态优化的集成电路热点检测方法，涉及集成电路技术领域，包括通过获取多模态特征数据，执行递进式分块聚类提取多尺度特征，利用多头注意力机制融合特征，构建热点特征图谱，结合空间自相关分析确定热点区域，并基于形态演化与能量演化序列的同步化分析优化检测结果。本发明能够提高热点检测的准确性和鲁棒性，降低误检率，有效识别复杂布局中的潜在热点区域。
本发明授权基于多模态特征融合与动态优化的集成电路热点检测方法在权利要求书中公布了：1.基于多模态特征融合与动态优化的集成电路热点检测方法，其特征在于，包括： 获取集成电路设计布图的多模态特征数据，并生成布图特征向量组； 对布图特征向量组执行递进式分块聚类得到多尺度特征分量，在不同尺度层提取局部布图特征描述，通过多头注意力机制进行特征融合，生成融合特征矩阵； 将融合特征矩阵输入残差网络，基于特征区域的梯度变化幅度确定热点区域，生成目标语义特征集合； 基于目标语义特征集合构建热点特征图谱，通过聚类方法确定热点区域的空间分布特性，生成原始热点检测数据； 基于原始热点检测数据构建热点密度分布图，并利用空间自相关分析计算热点区域间的关联强度矩阵；根据关联强度矩阵与热点密度分布图执行区域扩展运算，生成备选热点区域集； 从备选热点区域集中提取几何特征与电学特征，基于形态演化序列与能量演化序列的同步化分析进行迭代优化，生成目标热点检测数据； 根据目标热点检测数据输出集成电路设计布图中的热点位置信息。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京宽温微电子科技有限公司，其通讯地址为：100176 北京市大兴区北京经济技术开发区科创五街38号院2号楼12层1208-33；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议，有机会获取IP积分或其他奖励