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龙图腾网获悉北京超摩科技有限公司申请的专利相位噪声分析方法、装置、设备与存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121208599B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511757192.5，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权相位噪声分析方法、装置、设备与存储介质是由张一凡;张俊;刘祥超;邹烈财;郑勇飞设计研发完成，并于2025-11-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本相位噪声分析方法、装置、设备与存储介质在说明书摘要公布了：本申请提供了一种相位噪声分析方法、装置、设备与存储介质，该方法应用于芯片领域。该方法包括：确定芯片中经过待测试部件的至少两条目标信号路径；对至少两条目标信号路径对应的目标信号数据进行互相关运算，得到互相关结果；基于互相关结果，确定互相关结果对应的目标相位噪声；基于目标相位噪声，确定待测试部件的测试结果，测试结果用于指示待测试部件对相位噪声的影响程度。该方法能够确定芯片中部件对相位噪声的影响程度，以提高对芯片测试的精准性。

本发明授权相位噪声分析方法、装置、设备与存储介质在权利要求书中公布了：1.一种相位噪声分析方法，其特征在于，所述方法包括： 确定芯片中经过待测试部件的至少两条目标信号路径； 对所述至少两条目标信号路径对应的目标信号数据进行互相关运算，得到互相关结果； 基于所述互相关结果，确定所述互相关结果对应的目标相位噪声； 基于所述目标相位噪声，确定所述待测试部件的测试结果，所述测试结果用于指示所述待测试部件对相位噪声的影响程度； 其中，所述确定芯片中经过待测试部件的至少两条目标信号路径，包括： 确定所述芯片中是否存在至少两条初始信号路径，所述初始信号路径为经过一个部件的信号路径，所述一个部件为所述待测试部件； 当所述芯片中存在所述至少两条初始信号路径时，基于所述至少两条初始信号路径，确定所述至少两条目标信号路径； 当所述芯片中不存在所述至少两条初始信号路径时，确定所述芯片中经过所述待测试部件的第一信号路径；对所述第一信号路径进行分类，得到经过相同部件的多组第二信号路径，所述多组第二信号路径中各组第二信号路径的数量大于或者等于2；基于所述多组第二信号路径，确定所述至少两条目标信号路径与参考信号路径，所述参考信号路径经过的部件中不包括所述待测试部件； 在所述至少两条目标信号路径经过的部件包括所述待测试部件与其它部件时，采集所述参考信号路径对应的参考信号数据，所述参考信号数据与所述目标信号路径是在同一时钟区域采集到的信号数据；基于所述参考信号数据，确定参考相位噪声；所述基于所述目标相位噪声，确定所述待测试部件的测试结果，包括： 将所述目标相位噪声与所述参考相位噪声进行比较，确定所述测试结果。

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