寰采星科技(宁波)有限公司刘欢龙获国家专利权
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龙图腾网获悉寰采星科技(宁波)有限公司申请的专利基于测量装置的平整度测量方法、装置、设备及测量系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN121230655B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511785047.8,技术领域涉及:G01B11/30;该发明授权基于测量装置的平整度测量方法、装置、设备及测量系统是由刘欢龙;陈鼎国;史小龙;杨涛;许宗义;武斌设计研发完成,并于2025-12-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于测量装置的平整度测量方法、装置、设备及测量系统在说明书摘要公布了:本发明公开了一种基于测量装置的平整度测量方法、装置、设备及测量系统,涉及金属箔材平整度测量领域,包括:向所述放卷设备提供放卷控制信号,向所述收卷设备提供收卷控制信号;接收所述激光测高仪采集的所述金属箔材沿传送方向的多个第一实际长度以及沿幅宽方向的多个第二实际长度;基于多个所述第一实际长度和第一基准长度,确定沿所述金属箔材在传送方向上的多个第一长度偏差;基于多个所述第二实际长度和第二基准长度,确定沿所述金属箔材在幅宽方向上的多个第二长度偏差;基于多个所述第一长度偏差和多个所述第二长度偏差,确定所述金属箔材的平整度。本发明可以准确测量因瓦箔材的平整度。
本发明授权基于测量装置的平整度测量方法、装置、设备及测量系统在权利要求书中公布了:1.一种基于测量装置的平整度测量方法,其特征在于,所述测量装置包括放卷设备、测量平台、收卷设备以及激光测高仪,所述激光测高仪设置在所述测量平台上方,所述放卷设备和所述收卷设备设置在测量平台两侧; 所述方法包括: 向所述放卷设备提供放卷控制信号,向所述收卷设备提供收卷控制信号;其中,所述放卷设备用于在所述放卷控制信号的控制下放卷,将金属箔材传送至测量平台;所述测量平台用于接收所述放卷设备传送的金属箔材;所述激光测高仪用于沿所述金属箔材的传送方向对平铺在所述测量平台上的金属箔材进行扫描,得到所述金属箔材沿传送方向的多个第一实际长度以及沿幅宽方向的多个第二实际长度;所述收卷设备用于在所述收卷控制信号的控制下收卷,将从所述测量平台传送的所述金属箔材缠绕成卷; 接收所述激光测高仪采集的所述金属箔材沿传送方向的多个第一实际长度以及沿幅宽方向的多个第二实际长度; 基于多个所述第一实际长度和第一基准长度,确定沿所述金属箔材在传送方向上的多个第一长度偏差; 基于多个所述第二实际长度和第二基准长度,确定沿所述金属箔材在幅宽方向上的多个第二长度偏差; 基于多个所述第一长度偏差和多个所述第二长度偏差,确定所述金属箔材的平整度; 其中,所述第一实际长度以及所述第二实际长度通过以下步骤得到: 利用所述激光测高仪的扫描步进值沿所述金属箔材的传送方向和所述幅宽方向进行细条划分,得到传送方向上的多个虚拟的第一细条和幅宽方向上的多个虚拟的第二细条; 获取所述金属箔材上各扫描点的高度值,并将所述扫描步进值作为相邻两个所述扫描点之间的水平距离; 利用相邻两个所述扫描点之间的高度差以及所述水平距离,得到相邻两个所述扫描点之间的实际距离; 将与各所述第一细条相对应的所有所述实际距离的和作为所述第一实际长度,以及与各所述第二细条相对应的所有所述实际距离的和作为所述第二实际长度。
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