上海帆声图像科技有限公司刘锴锋获国家专利权
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龙图腾网获悉上海帆声图像科技有限公司申请的专利一种基于余弦拟合与RMSE可靠度加权的反斑点调制度估计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121298771B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511871859.4，技术领域涉及：G01N21/958；该发明授权一种基于余弦拟合与RMSE可靠度加权的反斑点调制度估计方法是由刘锴锋;陈心毅;郑子谅设计研发完成，并于2025-12-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于余弦拟合与RMSE可靠度加权的反斑点调制度估计方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于余弦拟合与RMSE可靠度加权的反斑点调制度估计方法，该方法包括采集相移条纹图像序列并预处理、逐像素执行余弦拟合、计算RMSE并生成可靠度权重图、低可靠区域局部加权重估以及生成最终反斑点调制度图，部分实施例还引入自适应参数选择机制。本发明通过像素级余弦拟合实现条纹信号的稳健建模，利用RMSE量化拟合置信度并构建权重图，通过局部加权重估修正低可靠区域参数，最终生成的调制度图在抑制斑点噪声的同时保留了微缺陷细节，适用于透明超薄玻璃、光学晶圆等材料的表面检测，具有良好的稳定性与计算效率。
本发明授权一种基于余弦拟合与RMSE可靠度加权的反斑点调制度估计方法在权利要求书中公布了：1.一种基于余弦拟合与RMSE可靠度加权的反斑点调制度估计方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤S1，采集相移条纹图像序列并进行预处理； 步骤S2，对预处理后的相移条纹图像序列中每个像素执行余弦拟合，求解得到漫反射分量Ax,y、振幅分量Bx,y和相位分量φx,y； 步骤S3，基于余弦拟合结果计算每个像素的拟合误差均方根RMSE，并依据RMSE生成可靠度权重图Wx,y； 步骤S4，根据可靠度权重图识别低可靠区域，对低可靠区域的漫反射分量和振幅分量进行局部加权重估，得到改进后的漫反射分量A’x,y和振幅分量B’x,y； 步骤S5，基于改进后的漫反射分量A’x,y和振幅分量B’x,y计算生成最终反斑点调制度图Mx,y。
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