买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利基于自定义孔径的差动共焦显微成像系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121386163B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511978380.0，技术领域涉及：G02B21/00；该发明授权基于自定义孔径的差动共焦显微成像系统及方法是由王之一;冯晓鹏;王建立;李烁;糜小涛;江思博;高胜英;周敬萱;姚凯男设计研发完成，并于2025-12-25向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于自定义孔径的差动共焦显微成像系统及方法在说明书摘要公布了：本发明属于光学测量技术领域，尤其涉及一种基于自定义孔径的差动共焦显微成像系统及方法。方法包括：S1：基于聚焦成像模块中的物镜的入瞳计算自定义孔径的最优振幅分布参数，并基于计算结果调整自定义孔径；S2：使调整后的自定义孔径相对于聚焦成像模块中的物镜光轴进行周向旋转，采集不同旋转角度下的焦前图像和焦后图像；S3：分别将不同旋转角度下的焦前图像和焦后图像进行图像融合，对应获得焦前融合图像和焦后融合图像；S4：基于焦前融合图像和焦后融合图像构造多焦点融合图像和焦前焦后差分图像；S5：基于多焦点融合图像和焦前焦后差分图像构造差分增强图像。本发明能够有效提高差动共焦显微镜的横向分辨率。

本发明授权基于自定义孔径的差动共焦显微成像系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于自定义孔径的差动共焦显微成像方法，利用基于自定义孔径的差动共焦显微成像系统实现，其特征在于： 基于自定义孔径的差动共焦显微成像系统包括光源、偏振分束器、自定义孔径、14波片、聚焦成像模块、分束镜、焦前探测模块、焦后探测模块和信号处理模块，其中，光源出射的单波长激光经偏振分束器透射，输出p方向线偏振光，p方向线偏振光经自定义孔径入射至14波片，14波片将p方向线偏振光转换为圆偏振光，圆偏振光经聚焦成像模块的作用后聚焦在待测样品上，待测样品反射的圆偏振光经聚焦成像模块入射至14波片，14波片将圆偏振光转换为s方向线偏振光，s方向线偏振光经自定义孔径入射至偏振分束器，偏振分束器将s方向线偏振光反射至分束镜进行分束，获得第一光束和第二光束，第一光束经焦前探测模块处理后，获得焦前图像，第二光束经焦后探测模块处理后，获得焦后图像，所述信号处理模块基于自定义孔径相对于焦前探测模块中的物镜光轴在不同周向旋转角度下的焦前图像和焦后图像，输出差分增强图像； 方法具体包括如下步骤： S1：基于聚焦成像模块中的物镜的入瞳计算自定义孔径的最优振幅分布参数，并基于计算结果调整自定义孔径； 步骤S1具体包括如下步骤： S11：将聚焦成像模块中的物镜的入瞳划分为N个子区域，构建待优化孔径掩膜函数： ； ； 其中，为第i个子区域的振幅分布参数，，为第i个子区域的指示函数，为基于物镜的入瞳面定义的归一化极坐标，为物镜半开角，为物镜透过率； S12：待测样品上的聚焦光斑对应的三维PSF中，聚焦光斑位于三维PSF的XOY平面，将聚焦光斑在y轴方向上的最小宽度所在的直线对应的归一化强度曲线的半高全宽值的定义为横向分辨率评价指标，且将自定义孔径的有效通光量定义为通光能量指标，基于横向分辨率评价指标和通光能量指标，构建目标函数： ； ； ； ; 其中，为横向分辨率评价指标，为通光能量指标，为各子区域的振幅分布参数集合，和均为权重系数，，、均为圆孔孔径下对应基准值，为归一化极坐标对应的待测样品上的聚焦光斑的光强分布，为归一化极坐标0,0对应的待测样品上的聚焦光斑的光强分布； S13：随机生成初始振幅分布参数集合，基于遗传算法调整自定义孔径的振幅分布参数，获得最优振幅分布参数集合; S2：使调整后的自定义孔径相对于聚焦成像模块中的物镜光轴进行周向旋转，采集不同旋转角度下的焦前图像和焦后图像； S3：图像融合模块分别将不同旋转角度下的焦前图像和焦后图像进行图像融合，对应获得焦前融合图像和焦后融合图像； S4：多焦点融合与差分模块基于焦前融合图像和焦后融合图像构造多焦点融合图像和焦前焦后差分图像； S5：差分增强模块基于多焦点融合图像和焦前焦后差分图像构造差分增强图像。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，其通讯地址为：130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。