杭州电子科技大学杨阿锋获国家专利权
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龙图腾网获悉杭州电子科技大学申请的专利基于均匀抖动量化的单比特三维MMW稀疏成像方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121522635B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202610062450.6，技术领域涉及：G01S13/89；该发明授权基于均匀抖动量化的单比特三维MMW稀疏成像方法是由杨阿锋;葛少迪设计研发完成，并于2026-01-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于均匀抖动量化的单比特三维MMW稀疏成像方法在说明书摘要公布了：基于均匀抖动量化的单比特三维MMW稀疏成像方法，包括：通过对原始三维回波中采样点的实部和虚部中分别加入独立的均匀分布扰动，获得抖动单比特样本；通过对原始三维回波沿距离方向聚焦生成散射系数的重建表示；在目标距离平面处提取二维切片生成二维测量，根据散射系数的重建表示，建立二维测量与目标平面散射系数的线性关系，生成线性观测模型；根据线性观测模型，在每一距离平面上构建带卷积重加权正则项的稀疏重构问题；利用迭代软阈值算法求解稀疏重构问题，生成目标散射系数；利用基于二维快速傅里叶变换构建的成像算子及其逆算子分别替代迭代软阈值算法中观测矩阵和观测矩阵的厄米共轭，生成三维散射系数图像。
本发明授权基于均匀抖动量化的单比特三维MMW稀疏成像方法在权利要求书中公布了：1.基于均匀抖动量化的单比特三维MMW稀疏成像方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1、采集单站光栅扫描成像系统的原始三维回波；通过对所述原始三维回波中采样点的实部和虚部中分别加入独立的均匀分布扰动，获得抖动单比特样本； 步骤2、通过对所述原始三维回波沿距离方向聚焦生成散射系数的重建表示在目标距离平面处提取二维切片生成二维测量，根据所述散射系数的重建表示，建立所述二维测量与目标平面散射系数的线性关系，生成线性观测模型； 步骤3、根据所述线性观测模型，在每一距离平面上构建带卷积重加权正则项的稀疏重构问题；利用迭代软阈值算法求解所述稀疏重构问题，生成目标散射系数； 步骤4、利用基于二维快速傅里叶变换构建的成像算子及其逆算子替代迭代软阈值算法中观测矩阵和所述观测矩阵的厄米共轭，生成三维散射系数图像。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
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