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龙图腾网获悉安东帕有限责任公司申请的专利对用于IR光谱分析的光学表面的损伤的确定获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112858210B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011363067.3，技术领域涉及：G01N21/3563；该发明授权对用于IR光谱分析的光学表面的损伤的确定是由奥托·谢贝尔霍夫;罗曼·贝内斯设计研发完成，并于2020-11-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本对用于IR光谱分析的光学表面的损伤的确定在说明书摘要公布了：提供了一种用于IR光谱分析并且用于对在IR光谱分析期间暴露于测量辐射9的表面13、15的损伤进行确定的装置1，其中该装置包括：用于产生测量辐射9的辐射源7；用于接纳样品16的样品容器21，其中该样品容器至少部分地由表面13、15限界；用于检测与所述样品16相互作用后的测量辐射17的检测器19，其中该装置被配置成：对接纳在所述样品容器中的参考样品的IR参考光谱29、31、IV进行测量；评估参考光谱29、31、IV，以确定损伤的指示标S、S0、S1，其中评估包括对基于在预确定积分光谱范围33内的参考光谱29、31、IV的量进行积分，其中所述指示标是根据积分的值S来确定的。

本发明授权对用于IR光谱分析的光学表面的损伤的确定在权利要求书中公布了：1.一种用于IR光谱分析并且用于对在IR光谱分析期间暴露于测量辐射的表面13、15的损伤进行确定的装置1，其中，所述装置包括： 辐射源7，所述辐射源用于产生所述测量辐射； 样品容器21，所述样品容器用于接纳液体的样品16，其中，所述样品容器至少部分地由所述表面13、15限界； 检测器19，所述检测器用于检测与所述样品16相互作用后的测量辐射； 其中，所述装置被配置成： 对接纳在所述样品容器中的参考样品的IR参考光谱进行测量； 评估所述参考光谱以确定所述损伤的指示标， 其中，评估包括： 对基于在预确定积分光谱范围33内的所述参考光谱的量进行积分，其中，所述指示标是根据所述积分的值S来确定的；以及 将所述参考光谱归一化以获得归一化的参考光谱INV，其中，为此目的，将所测量到的所述参考光谱除以预确定波数状态下的强度和或将所测量到的所述参考光谱乘以预确定因子；以及或者，将所述归一化的参考光谱INV对数化，以获得对数化的归一化的参考光谱EV。

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