美光科技公司J·M·约翰逊获国家专利权
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龙图腾网获悉美光科技公司申请的专利对微电子装置测试数据的编码及其相关方法、装置和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114078558B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110847712.7，技术领域涉及：G11C29/42；该发明授权对微电子装置测试数据的编码及其相关方法、装置和系统是由J·M·约翰逊设计研发完成，并于2021-07-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本对微电子装置测试数据的编码及其相关方法、装置和系统在说明书摘要公布了：公开了对微电子装置的测试数据进行编码以及相关方法、装置和系统。一种存储器装置可以包含多个列平面和至少一个电路。所述至少一个电路可以被配置成接收针对所述存储器装置的所述多个列平面中的每个列平面的列地址的测试结果数据。所述至少一个电路还可以被配置成响应于所述多个列平面的多个位中的仅一个位未通过针对所述列地址的测试而将所述测试结果数据转换为第一结果。进一步地，所述至少一个电路可以被配置成响应于仅一个列平面未通过针对所述列地址的所述测试并且所述一个列平面的多于一个位有缺陷而将所述测试结果数据转换为第二结果。
本发明授权对微电子装置测试数据的编码及其相关方法、装置和系统在权利要求书中公布了：1.一种存储器装置，其包括： 存储器阵列，所述存储器阵列包含多个列平面；以及 至少一个电路，所述至少一个电路耦接到所述存储器阵列并且被配置成： 接收针对所述存储器阵列的所述多个列平面中的每个列平面的列地址的测试结果数据； 响应于所述多个列平面的多个位中的仅一个位未通过针对所述列地址的测试而将所述测试结果数据转换为第一结果，所述第一结果包含第一数目个位和第二数目个位，所述第一数目个位标识所述一个位，所述第二数目个位标识所述多个列平面中的包含所述一个位的列平面；并且 响应于仅一个列平面未通过针对所述列地址的所述测试并且所述一个列平面的多于一个位有缺陷而将所述测试结果数据转换为第二结果，所述第二结果包括第三数目个位和第四数目个位，所述第三数目个位标识所述一个列平面，所述第四数目个位标识所述多于一个位。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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