西拉格国际有限公司J·D·塔尔伯特获国家专利权
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龙图腾网获悉西拉格国际有限公司申请的专利在缺光环境中的激光扫描和工具跟踪成像获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114449940B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080045172.4，技术领域涉及：A61B1/04；该发明授权在缺光环境中的激光扫描和工具跟踪成像是由J·D·塔尔伯特;D·M·威克恩设计研发完成，并于2020-06-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本在缺光环境中的激光扫描和工具跟踪成像在说明书摘要公布了：本发明公开了用于在缺光环境中进行激光扫描的系统、方法和装置。系统包括发射器和图像传感器，发射器用于发射电磁辐射脉冲，图像传感器包括用于感测反射的电磁辐射的像素阵列。该系统包括控制器，该控制器包括与图像传感器和发射器电通信的处理器，其中控制器在图像传感器的消隐周期期间同步电磁辐射脉冲的定时。该系统使得由发射器发射的电磁辐射脉冲的至少一部分包括激光扫描图案。
本发明授权在缺光环境中的激光扫描和工具跟踪成像在权利要求书中公布了：1.一种系统，包括： 发射器，所述发射器用于发射电磁辐射脉冲； 图像传感器，所述图像传感器包括用于感测反射的电磁辐射的像素阵列；和 控制器，所述控制器包括与所述图像传感器和所述发射器电通信的处理器； 其中所述控制器同步所述发射器和所述图像传感器的操作，使得所述发射器在所述图像传感器的消隐周期期间脉冲电磁辐射； 其中所述发射器包括电磁辐射源，所述电磁辐射源被配置成以激光扫描图案脉冲电磁辐射，并且 其中，所述图像传感器被配置成能够通过感测由所述激光扫描图案产生的反射的电磁辐射来生成拓扑曝光帧。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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