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龙图腾网获悉枝江亿硕半导体有限公司申请的专利一种激光器芯片自动测试设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115453330B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211226976.1，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种激光器芯片自动测试设备是由姚昌余设计研发完成，并于2022-10-09向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种激光器芯片自动测试设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种激光器芯片自动测试设备，包括：基座，为本装置的主体平台，所述基座的上端设有防尘盖；所述基座的上表面通过铆钉固定安装有：晶圆放置台、高温检测台、常温检测台、检测机构、分类放置台、转运检测台，所述高温检测台设置在所述晶圆放置台的左侧，所述常温检测台设置在所述高温检测台的左侧，所述分类放置台设置在所述常温检测台的左侧，所述检测机构设于所述常温检测台与所述高温检测台的前端，所述检测机构共设置两组；该用于激光芯片的检测装置，能够利用三组检测平台，对激光芯片进行高温与常温下的检测，从而更准确的检测激光芯片的体质，同时也具有相当高的检测效率，能够满足大批量激光芯片的快速检测需求。

本发明授权一种激光器芯片自动测试设备在权利要求书中公布了：1.一种激光器芯片自动测试设备，其特征在于，包括： 基座1，为本装置的主体平台，所述基座1的上端设有防尘盖2； 所述基座1的上表面通过铆钉固定安装有：晶圆放置台3、高温检测台4、常温检测台5、检测机构6、分类放置台7、转运检测台8，所述高温检测台4设置在所述晶圆放置台3的左侧，所述常温检测台5设置在所述高温检测台4的左侧，所述分类放置台7设置在所述常温检测台5的左侧，所述检测机构6设于所述常温检测台5与所述高温检测台4的前端，所述检测机构6共设置两组；所述转运检测台8设于所述晶圆放置台3与所述高温检测台4与所述常温检测台5以及所述分类放置台7的后方，所述转运检测台8的正面通过螺钉固定安装有检测探头9，所述检测探头9延伸至所述晶圆放置台3与所述高温检测台4与所述常温检测台5的上端，所述检测探头9共设置三组； 所述转运检测台8上设有纵向滑动板81，所述纵向滑动板81纵向设置两组，所述纵向滑动板81上滑动设置有单向提取装置83与双向提取装置86，所述单向提取装置83延伸至所述转运检测台8的前端，所述单向提取装置83的内侧设有升降装置84，所述升降装置84的下方设置有提取头85，所述双向提取装置86与所述单向提取装置83的结构相似，但所述双向提取装置86的升降装置84上设有两组提取头85，所述转运检测台8的上还设有两组滑动驱动电机82，所述滑动驱动电机82与所述纵向滑动板81之间一一对应，所述滑动驱动电机82通过同步带与所述单向提取装置83以及双向提取装置86之间进行连接。

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