武汉颐光科技有限公司石雅婷获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉颐光科技有限公司申请的专利一种偏振度测量仪的全局校准与测量方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115727952B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211366221.1，技术领域涉及：G01J4/00；该发明授权一种偏振度测量仪的全局校准与测量方法及装置是由石雅婷;刘亚鼎;郭春付;李伟奇;张传维;薛小汝;何勇设计研发完成，并于2022-10-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种偏振度测量仪的全局校准与测量方法及装置在说明书摘要公布了：本发明涉及一种偏振度测量仪的全局校准与测量方法及装置，首先测量标准样件在测量系统的全波段光强信息，将光强信息进行傅里叶变换得到标准样件的实测傅里叶系数；利用所述标准样件的实测傅里叶系数及其理论傅里叶系数，拟合迭代出全局系统参数；然后测量待测样件的全波段光强信息，将光强信息进行傅里叶变换得到待测样件的傅里叶系数；利用全局系统参数以及待测样件的傅里叶系数计算得到待测样件的全波段偏振度。本发明通过全局系统参数，进行全局系统校准与测量，避免了因逐波长的方法进行拟合系统参数而产生的过拟合现象。
本发明授权一种偏振度测量仪的全局校准与测量方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种偏振度测量仪的全局校准与测量方法，其特征在于，包括： 测量标准样件在测量系统的全波段光强信息，将光强信息进行傅里叶变换得到标准样件的实测傅里叶系数； 利用所述标准样件的实测傅里叶系数及其理论傅里叶系数，拟合迭代出全局系统参数； 测量待测样件的全波段光强信息，将光强信息进行傅里叶变换得到待测样件的傅里叶系数； 利用所述全局系统参数以及待测样件的傅里叶系数计算得到待测样件的全波段偏振度； 所述全局系统参数包括检偏波片的中心波长、光轴夹角以及检偏波片和检偏片的初始方位角； 所述检偏波片为复合波片。
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