美光科技公司徐峻获国家专利权
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龙图腾网获悉美光科技公司申请的专利擦除操作期间的缺陷检测获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115732021B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211062935.3，技术领域涉及：G11C29/44；该发明授权擦除操作期间的缺陷检测是由徐峻;朴奇太设计研发完成，并于2022-08-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本擦除操作期间的缺陷检测在说明书摘要公布了：本公开涉及擦除操作期间的缺陷检测。一种系统包含存储器装置，所述存储器装置包含：存储器阵列；和控制逻辑，其以操作方式与所述存储器阵列耦合，以执行包含致使执行擦除操作的操作。所述擦除操作包含子操作。所述操作进一步包含致使在所述子操作中的至少一个子操作期间执行缺陷检测。使用至少一个缺陷检测方法相对于至少一个故障点执行缺陷检测。
本发明授权擦除操作期间的缺陷检测在权利要求书中公布了：1.一种存储器装置，其包括： 存储器阵列；及 控制逻辑，其以操作方式与所述存储器阵列耦合，以执行包括以下的操作： 启动擦除操作，所述擦除操作包括相对于所述存储器阵列执行的多个子操作； 确定所述多个子操作的擦除验证子操作是否成功； 响应于确定所述擦除验证子操作成功，致使执行所述多个子操作的选择栅极扫描子操作； 在所述多个子操作中的至少一个子操作期间，致使在所述存储器阵列的一对组件之间识别至少一个电流差动； 确定所述至少一个电流差动是否指示相对于所述存储器阵列的至少一个对应故障点的至少一个缺陷；及 响应于确定所述至少一个电流差动指示相对于所述至少一个故障点的所述至少一个缺陷，致使产生所述至少一个缺陷的指示。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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