中国科学院微电子研究所廖安谋获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院微电子研究所申请的专利基于Smith的渐变传输线的EDA方法和相关设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115859887B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211497374.X，技术领域涉及：G06F30/36；该发明授权基于Smith的渐变传输线的EDA方法和相关设备是由廖安谋;张小宾;王云设计研发完成，并于2022-11-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于Smith的渐变传输线的EDA方法和相关设备在说明书摘要公布了：一种基于Smith的渐变传输线的EDA方法、装置和设备，方案首先获取Smith圆图上的匹配路径，对匹配路径进行离散化处理，然后采用广义反射系数圆拟合离散化后的匹配路径，再基于拟合得到的各个广义反射系数圆的圆心坐标和广义反射系数圆与匹配路径的交点确定广义反射系数圆对应的传输线的特性阻抗和电长度，最后将拟合得到的各个广义反射系数圆对应的传输线的特性阻抗和电长度进行级联，将级联结果作为渐变传输线并输出。在本方案中，传输线的计算方式基于Smith圆图实现，而Smith圆图能够很容易的构建在EDA等设计工具，极大便利了技术人员的设计工作。
本发明授权基于Smith的渐变传输线的EDA方法和相关设备在权利要求书中公布了：1.一种基于Smith的渐变传输线的EDA方法，其特征在于，包括： 获取Smith圆图上的匹配路径，对所述匹配路径进行离散化处理； 依次选择广义反射系数圆拟合离散化后的匹配路径上的两个离散点，其中，所选择的两个离散点相邻，且当前选择的两个离散点中的一个离散点包含于上一次选择的两个离散点中；获取与所选择的两个离散点向适配的广义反射系数圆对所选择的两个离散点进行拟合匹配，以使得所获取的广义反射系数圆的圆心位于所述Smith圆图的实轴上，且所获取的广义反射系数圆与所述匹配路径的交点为所选择的两个离散点； 基于拟合得到的各个广义反射系数圆的圆心坐标和广义反射系数圆与所述匹配路径的交点确定所述广义反射系数圆对应的传输线的特性阻抗和电长度； 将拟合得到的各个广义反射系数圆对应的传输线的特性阻抗和电长度进行级联，将级联结果作为渐变传输线并输出。
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