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龙图腾网获悉中国科学院高能物理研究所申请的专利一种探测物体内部多元素分布的方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116087239B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310198331.X，技术领域涉及：G01N23/04；该发明授权一种探测物体内部多元素分布的方法和系统是由胡毅豪;曹兴忠;况鹏;刘福雁;张鹏;贾萱;于润升;王宝义;魏龙设计研发完成，并于2023-03-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种探测物体内部多元素分布的方法和系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种探测物体内部多元素分布的方法和系统，属于元素分析与成像领域。包括向待测物发射负缪子束，使用阵列探测器系统捕获逃逸射线，得到逃逸射线被所述探测器系统捕获时的位置信息和电压信号；基于所述电压信号得到被捕获的所有所述逃逸射线对应的总能谱图；基于所述总能谱图确定需要成像的元素；基于所述元素的能谱范围确定用于成像的待分析逃逸射线；基于所述待分析逃逸射线的位置信息得到所述待分析逃逸射线对应的空间点；基于所述空间点进行成像，得到所述元素在待测物内部的三维分布。本发明的方法几乎没有核污染，并且相对于小孔成像原理的成像方法可在相同时间内捕获更多数量的射线，提高探测效率，实现快速成像。

本发明授权一种探测物体内部多元素分布的方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种探测物体内部多元素分布的方法，其特征在于，包括如下步骤： 向待测物发射负缪子束，使用阵列探测器系统捕获逃逸射线，得到逃逸射线被所述探测器系统捕获时的位置信息和电压信号；所述探测器系统包括水平方向的第一探测器平面和垂直方向的第二探测器平面，每个探测器平面分别包括两层探测器；所述逃逸射线为µ-X射线； 基于所述电压信号得到被捕获的所有所述逃逸射线对应的总能谱图； 基于所述总能谱图确定需要成像的元素； 基于所述元素的能谱范围确定用于成像的待分析逃逸射线； 基于所述待分析逃逸射线的位置信息得到所述待分析逃逸射线对应的空间点；所述待分析逃逸射线对应的空间点包括分别与第一探测器平面和第二探测器平面对应的空间点；其中，分别构建与第一探测器平面、第二探测器平面平行的多个数学平面； 基于第一探测器平面或第二探测器平面捕获的待分析逃逸射线的所述位置信息确定该逃逸射线所在的直线； 基于所述直线和每个所述数学平面的交点得到所述逃逸射线第一探测器平面或第二探测器平面对应的空间点； 所述空间点的坐标的关系满足： ，； 其中，，表示所述逃逸射线的方向矢量；、分别表示所述第一或第二探测器平面的两层探测器产生的第一、第二电压信号的像素单元的中心位置坐标；，n表示所述空间点所在数学平面与的间隔数，表示相邻数学平面的间隔；所述数学平面为构建的与第一探测器平面、第二探测器平面平行的多个数学平面； 基于所述空间点进行成像，得到所述元素在待测物内部的三维分布。

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