宏晶微电子科技股份有限公司方俊峰获国家专利权
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龙图腾网获悉宏晶微电子科技股份有限公司申请的专利测试方法、装置及电子设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116246688B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310449994.4，技术领域涉及：G11C29/12；该发明授权测试方法、装置及电子设备是由方俊峰;刘运;刘伟设计研发完成，并于2023-04-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本测试方法、装置及电子设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种测试方法、装置及电子设备，应用于外挂闪存型微控制器，该外挂闪存型微控制器内包括目标存储设备，该目标存储设备为随机存取存储器；该方法包括：检测该外挂闪存型微控制器是否外挂有外部闪存设备，得到检测结果；在检测结果表示该外挂闪存型微控制器外挂有外部闪存设备的情况下，对目标存储设备执行存储测试处理，得到目标测试结果；其中，存储测试处理用于对目标存储设备中的存储单元进行存储校验，目标测试结果用于表示目标存储设备中的存储单元是否存在异常；将目标测试结果存储至外部闪存设备。该方法可以在不增加额外成本的前提下，高效的实现对外挂闪存型微控制器的测试处理。
本发明授权测试方法、装置及电子设备在权利要求书中公布了：1.一种测试方法，其特征在于，应用于外挂闪存型微控制器，所述外挂闪存型微控制器内包括目标存储设备，所述目标存储设备为随机存取存储器；所述方法包括： 检测所述外挂闪存型微控制器是否外挂有外部闪存设备，得到检测结果，其中，所述外挂闪存型微控制器处于已生产完成并投入使用的阶段； 在所述检测结果表示所述外挂闪存型微控制器外挂有所述外部闪存设备的情况下，对所述目标存储设备执行存储测试处理，得到目标测试结果；其中，所述存储测试处理用于对所述目标存储设备中的存储单元进行存储校验，所述目标测试结果用于表示所述目标存储设备中的存储单元是否存在异常； 将所述目标测试结果存储至所述外部闪存设备。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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