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龙图腾网获悉太原理工大学申请的专利PCB表面缺陷检测方法、系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116452540B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310414200.0，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权PCB表面缺陷检测方法、系统是由续欣莹;郑梓豪;刘华平;赵文晶;王昊东;魏嘉敏设计研发完成，并于2023-04-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本PCB表面缺陷检测方法、系统在说明书摘要公布了：本申请公开了一种PCB表面缺陷检测方法、系统。其中，方法包括：基于采集的PCB缺陷图像信息构建训练集、验证集和测试集；对训练集进行预处理，获取多缺陷合成图像；构建目标检测神经网络；采用多缺陷合成图像对其进行训练，获得缺陷检测模型；在验证集上对缺陷检测模型进行验证，获得综合检测模型；在测试集上对综合检测模型进行测试，获得PCB表面缺陷检测结果图；该方法能够有效增加样本多样性；通过构建的目标检测神经网络，使其可以充分关注缺陷间的联系，同时给予图像生成网络反馈，合成更多有利于提高检测精度的样本，同时增加缺陷检测的精度，确保生成图像的真实性，从而提高缺陷检测模型的泛化能力，有效缓解前景‑前景不平衡问题。

本发明授权PCB表面缺陷检测方法、系统在权利要求书中公布了：1.一种PCB表面缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 基于采集的原始PCB缺陷图像信息按照预设比例构建训练集、验证集和测试集； 对所述训练集进行预处理，获取多缺陷合成图像； 构建目标检测神经网络； 采用所述多缺陷合成图像对所述目标检测神经网络进行训练，获得缺陷检测模型； 在所述验证集上对所述缺陷检测模型进行验证，获得综合检测模型； 在所述测试集上对所述综合检测模型进行测试，获得所述测试集中的PCB表面缺陷检测结果图； 所述对所述训练集进行预处理，获取多缺陷合成图像，包括： 基于所述训练集，采用特征提取网络对第一前景掩码和第一背景图像进行特征提取，获得第一前景掩码特征图像和第一背景特征图像； 采用合成网络对所述第一前景掩码特征图像、所述第一背景特征图像进行处理，获得所述多缺陷合成图像； 所述采用合成网络对所述第一前景掩码特征图像、所述第一背景特征图像进行处理，获得所述多缺陷合成图像，包括： 对所述第一前景掩码特征图像进行同维度处理，获得与所述第一背景特征图像相同维度的第二前景掩码； 采用图像处理方法对所述第二前景掩码、所述第一背景特征图像融合，获得第一合成图像； 采用空间变换网络对所述第一背景特征图像、所述第二前景掩码、第一合成图像进行处理，获得第二合成图像； 在第二背景图像中提取一个与所述第一前景掩码特征图像形状相同的第一缺陷图像； 将所述第一缺陷图像与所述第二合成图像融合，获得第三合成图像； 在所述第二背景图像中提取一个与所述第一缺陷图像形状相同的第一背景掩码； 将所述第一背景掩码与所述第三合成图像融合，获得第四合成图像； 判断所述第四合成图像中是否包含至少三种缺陷，若是，则所述第四合成图像即为所述多缺陷合成图像； 若否，执行循环步骤。

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