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龙图腾网获悉中国科学院深圳先进技术研究院申请的专利车规级芯片的安全分析方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116540073B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310491576.1，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权车规级芯片的安全分析方法、装置、设备及存储介质是由邵翠萍;李慧云;杨柳青设计研发完成，并于2023-05-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本车规级芯片的安全分析方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片安全技术领域，公开了一种车规级芯片的安全分析方法、装置、设备及存储介质。其中，该方法包括：获取车规级芯片的安全属性数据和电路网表数据，该安全属性数据包括安全目标；从电路网表数据中确定出针对于车规级芯片的第一故障事件和第二故障事件，其中，第一故障事件为偏离安全目标的事件，第二故障事件为引发芯片瞬态故障的事件；基于第一故障事件和第二故障事件之间的逻辑关系，生成电路失效故障树；基于电路失效故障树，确定车规级芯片的安全度量数据。通过实施本发明技术方案，能够综合考虑芯片电路的逻辑结构，以精确计算出因瞬态故障影响安全目标的安全度量数据，从而实现针对于车规级芯片的有效安全分析。

本发明授权车规级芯片的安全分析方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种车规级芯片的安全分析方法，其特征在于，所述方法包括： 获取车规级芯片的安全属性数据和电路网表数据，所述安全属性数据包括安全目标，所述电路网表数据用于描述车规级芯片所包含电路元器件相互之间的连接关系；电路网表数据将各个电路元器件的连接关系以逻辑门的形式表征，即芯片电路包含有多个逻辑单元； 从所述电路网表数据中确定出针对于所述车规级芯片的第一故障事件和第二故障事件，其中，所述第一故障事件为处于逻辑顶层的逻辑单元发生故障而偏离所述安全目标的事件，所述第二故障事件为处于逻辑底层的逻辑单元引发芯片瞬态故障的事件，所述第二故障事件的发生引发所述第一故障事件的发生； 基于所述第一故障事件和所述第二故障事件之间的逻辑关系，生成电路失效故障树； 基于所述电路失效故障树，确定所述车规级芯片的安全度量数据，所述安全度量数据用于对所述车规级芯片进行安全分析； 其中，基于所述电路失效故障树，确定所述车规级芯片的安全度量信息，包括：基于所述电路失效故障树，确定引发所述第一故障事件的瞬态故障事件集，所述瞬态故障事件集包括一个或多个第二故障事件；确定所述瞬态故障事件集中各个瞬态故障事件对应的故障概率；基于各个所述故障概率，得到所述安全度量信息。

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