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龙图腾网获悉西南科技大学申请的专利一种光电探测器激光损伤测试装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116642580B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310655836.4，技术领域涉及：G01J1/02；该发明授权一种光电探测器激光损伤测试装置及方法是由蒋勇;刘欣怡;高有东;伍萌;李麟;徐曼;王陈卓;刘虎风;张发旺设计研发完成，并于2023-06-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光电探测器激光损伤测试装置及方法在说明书摘要公布了：一种光电探测器激光损伤的测试装置，包括：激光器、二分之一波片、56度偏振片、45度分光片、功率计、快门、高透高反镜、准直光源、扩束系统、透镜、45度分光片、第一滤光衰减组件、光束质量分析仪、反射镜、被测光电探测器放置的样品控制台、第一光电探测器、第二滤光衰减组件、第一分光镜、分光棱镜、光热探测器、位敏探测器、成像系统、第二分光镜、探测光源、第三滤光衰减组件、第二光电探测器、示波器和终端控制系统；本发明使用时可以实现对光电探测器传感感光部位的无拆卸激光损伤测试，同时采用融合了双光电探测器、光热探测器、位敏探测器以及在线成像系统，优势互补，实现探测器损伤信号的高精度检测与测量。

本发明授权一种光电探测器激光损伤测试装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种光电探测器激光损伤的测试装置，其特征在于，包括：激光器1、二分之一波片2、56度偏振片3、45度分光片4、功率计5、快门6、高透高反镜7、准直光源8、扩束系统9、透镜10、45度分光片11、第一滤光衰减组件12、光束质量分析仪13、反射镜14、供被测光电探测器15放置的样品控制台16、第一光电探测器17、第二滤光衰减组件18、第一分光镜19、分光棱镜20、光热探测器21、位敏探测器22、成像系统23、第二分光镜24、探测光源25、第三滤光衰减组件26、第二光电探测器27、示波器28和终端控制系统29； 所述激光器1发出的激光光束依次经所述二分之一波片2、56度偏振片3、45度分光片4、快门6、高透高反镜7、扩束系统9、透镜10和45度分光片11后分为二部分，其中一部分经所述反射镜14反射后，辐照至被测光电探测器15的表面上，另一部分经所述第一滤光衰减组件12后由所述光束质量分析仪13接收； 所述准直光源8依次经所述高透高反镜7、扩束系统9、透镜10，45度分光片11和反射镜14后照射到被测光电探测器15的表面上； 所述探测光源25发出的探测光束经所述第二分光镜24后分为第一透射光束和第一反射光束，所述第一透射光束斜入射至被测光电探测器15的表面上，经该测光电探测器15反射后，经所述第一分光镜19分为第二透射光束和第二反射光束，所述第二反射光束经所述第二滤光衰减组件18后，由所述第一光电探测器17接收，所述第二透射光束经所述分光棱镜20后分为第三透射光束和第三反射光束，分别由所述光热探测器21和位敏探测器22接收，所述第一反射光束经所述第三滤光衰减组件26后，由第二光电探测器27接收； 所述激光器发出的激光光束、准直光源发出的准直光束和探测光源发出的探测光束聚焦重合于所述被测光电探测器的待测处； 所述第一光电探测器17和第二光电探测器27分别连接示波器； 所述激光器1、功率计5、快门6、光束质量分析仪13、样品控制台16、光热探测器21、位敏探测器22、成像系统23、探测光源25分别连接所述终端控制系统29。

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