中国兵器装备集团西南技术工程研究所;北京航空航天大学吴护林获国家专利权
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龙图腾网获悉中国兵器装备集团西南技术工程研究所;北京航空航天大学申请的专利一种基于缩比映射的雷达散射截面测算方法、装置及介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116719001B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310686224.1,技术领域涉及:G01S7/41;该发明授权一种基于缩比映射的雷达散射截面测算方法、装置及介质是由吴护林;邓贤明;张天才;洪韬;李忠盛;赵京城;朱凡;周堃;张翼翔;陈知华;徐塱;代欣位;汪家辉;王森;吴非;刘朋浩;高浩然设计研发完成,并于2023-06-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于缩比映射的雷达散射截面测算方法、装置及介质在说明书摘要公布了:本发明涉及雷达技术领域,特别涉及一种基于缩比映射的雷达散射截面测算方法、装置及介质。具体方法为确认雷达探测到的原型目标的类别信息;根据所述原型目标类别调取原型目标与缩比目标雷达散射截面映射模型;根据原型目标对应的缩比目标雷达散射截面和原型目标与缩比目标雷达散射截面映射模型,计算原型目标雷达散射截面σA。本发明针对不同的原型目标构建原型目标与缩比目标雷达散射截面映射模型;通过映射模型和可测得的缩比目标雷达散射截面,既可准确计算出原型目标雷达散射截面σA;无论表面是否涂覆有应用介质材料均适用。
本发明授权一种基于缩比映射的雷达散射截面测算方法、装置及介质在权利要求书中公布了:1.一种基于缩比映射的雷达散射截面测算方法,其特征在于,具体方法如下: 确认雷达探测到的原型目标的类别信息; 根据所述原型目标类别调取原型目标与缩比目标雷达散射截面映射模型; 根据原型目标对应的缩比目标雷达散射截面和原型目标与缩比目标雷达散射截面映射模型,计算原型目标雷达散射截面; 所述原型目标与缩比目标雷达散射截面映射模型的构建方法为: 构建与所述原型目标电磁特征等效的金属制成的所述缩比目标,所述缩比目标与原型目标外形相似度大于第一阈值; 在微波暗室以第一测量波段探测缩比目标,完成所述缩比目标雷达散射截面试验和测量,获取缩比目标测量数据; 根据缩比目标测量数据,构建所述原型目标与缩比目标雷达散射截面映射模型; 所述原型目标与缩比目标雷达散射截面映射模型包括第一映射模型和第二映射模型; 所述第一映射模型为镜面近镜面散射情况下的原型目标与缩比目标雷达散射截面映射模型; 所述第二映射模型为表面行波和边缘绕射情况下的原型目标与缩比目标雷达散射截面映射模型; 所述第一映射模型构建方法如下: 在所述缩比目标表面涂覆应用介质材料前后,分别测量所述缩比目标的第一雷达散射截面和第二雷达散射截面; 根据第一测量波段和第二测量波段的比例计算目标缩比因子S;所述第一测量波段为缩比目标的电磁测量波段、第二测量波段为原型目标要求的测量波段; 分别计算第二测量波段下涂覆应用介质材料的原型目标的归一化等效表面阻抗,以及第一测量波段下涂覆应用介质材料的缩比目标的归一化等效表面阻抗; 所述第一映射模型公式为: 其中, 其中, 式中,为原型目标雷达散射截面,为理想模型雷达散射截面。
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