浙江珏芯微电子有限公司杜宇获国家专利权
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龙图腾网获悉浙江珏芯微电子有限公司申请的专利一种红外焦平面探测器的量子效率测试方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116735009B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310510434.5，技术领域涉及：G01J5/90；该发明授权一种红外焦平面探测器的量子效率测试方法及系统是由杜宇;熊伟钉;李克俊;安美;陈天晴;谭必松;毛剑宏设计研发完成，并于2023-05-05向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种红外焦平面探测器的量子效率测试方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种红外焦平面探测器的量子效率测试方法及系统，包括红外焦平面探测器以及与红外焦平面探测器对准且相隔一预设距离设置的面源黑体，使得黑体辐射均匀照射在红外焦平面探测器像元上，面源黑体工作在一预设温度下；并包括以下步骤：步骤S1，获取红外焦平面探测器的像元在不同积分时间下的像元电压数据；步骤S2，对红外焦平面探测器的像元电压数据随积分时间进行线性拟合，确定拟合直线的斜率；步骤S3，获取红外焦平面探测器的光学F数、红外焦平面探测器上读出电路的积分电容、像元面积以及普朗克光子发射率，并结合确定的拟合直线的斜率计算得到量子效率。有益效果：本发明测试方法简便可行，数据采集方便、数据处理简单。
本发明授权一种红外焦平面探测器的量子效率测试方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种红外焦平面探测器的量子效率测试方法，其特征在于，包括红外焦平面探测器以及与所述红外焦平面探测器对准且相隔一预设距离设置的面源黑体，使得黑体辐射均匀照射在所述红外焦平面探测器像元上，所述面源黑体工作在一预设温度下； 并包括以下步骤： 步骤S1，获取所述红外焦平面探测器的像元在不同积分时间下的像元电压数据； 步骤S2，对所述红外焦平面探测器的像元电压数据随所述积分时间进行线性拟合，确定拟合直线的斜率； 步骤S3，获取所述红外焦平面探测器的光学F数、所述红外焦平面探测器上读出电路的积分电容、像元面积以及普朗克光子发射率，并结合确定的所述拟合直线的斜率计算得到所述量子效率。
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