中国石油天然气股份有限公司许惠芳获国家专利权
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龙图腾网获悉中国石油天然气股份有限公司申请的专利一种用于电子保护膜的聚乙烯原料的质量评价方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116818615B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210291738.2,技术领域涉及:G01N15/0227;该发明授权一种用于电子保护膜的聚乙烯原料的质量评价方法是由许惠芳;宋彬;魏福庆;邸麟婷;王福善;李朋朋;金俊杰;李广全;孙建敏;李艳芹设计研发完成,并于2022-03-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于电子保护膜的聚乙烯原料的质量评价方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种用于电子保护膜的聚乙烯原料的质量评价方法,包括:步骤1,将聚乙烯原料形成薄片,薄片厚度为0.02~0.1毫米;步骤2,测试所述薄片的晶点,当所述薄片上晶点颗粒的直径≥0.5mm,或晶点数量0.5个m2时,判定该聚乙烯原料为不合格产品;步骤3,测定步骤2得到的非不合格产品的聚乙烯原料的熔体强度,判定所得熔体强度和晶点数量是否满足如下关系式:y≤0.19335+2.3796x‑3.73523x2;其中,y为晶点数量,单位为个m2;x为熔体强度,单位为N;当所述熔体强度和晶点数量满足上述关系式时,该聚乙烯原料为合格产品。本发明评价方法能够对原料是否合格进行快速判断。
本发明授权一种用于电子保护膜的聚乙烯原料的质量评价方法在权利要求书中公布了:1.一种用于电子保护膜的聚乙烯原料的质量评价方法,其特征在于,包括: 步骤1,将聚乙烯原料形成薄片,薄片厚度为0.02~0.1毫米; 步骤2,测试所述薄片的晶点,当所述薄片上晶点颗粒的直径≥0.5mm,或晶点数量0.5个m2时,判定该聚乙烯原料为不合格产品; 步骤3,测定步骤2得到的非不合格产品的聚乙烯原料的熔体强度,判定所得熔体强度和晶点数量是否满足如下关系式: y≤0.19335+2.3796x-3.73523x2 其中,y为晶点数量,单位为个m2;x为熔体强度,单位为N; 当所述熔体强度和晶点数量满足上述关系式时,该聚乙烯原料为合格产品; 其中,聚乙烯原料形成薄片的装置包括: 挤出装置,用于将所述聚乙烯原料挤成薄片; 缠绕装置,包括旋转轴; 定位套筒,可拆卸地设置于所述旋转轴上,在所述旋转轴的带动下进行旋转; 其中,所述薄片缠绕于所述定位套筒上,随着所述定位套筒的旋转,收紧所述薄片。
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