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龙图腾网获悉正泰集团研发中心(上海)有限公司申请的专利塑封薄膜缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116833111B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310836978.0，技术领域涉及：B07C5/10；该发明授权塑封薄膜缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质是由韩旭峰;聂宗军;程晓峰;洪乐设计研发完成，并于2023-07-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本塑封薄膜缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质在说明书摘要公布了：本申请实施例提供一种塑封薄膜缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质，涉及目标检测技术领域，通过对待检测的塑封薄膜图像进行目标检测，确定塑封薄膜图像中破损区域的检测框以及破损区域的破损类型；基于检测框的尺寸信息、破损类型以及塑封薄膜图像进行轮廓检测，确定塑封薄膜图像中破损轮廓面积；基于破损轮廓面积确定塑封薄膜图像的缺陷检测结果；本申请实施例通过定位塑封薄膜图像中破损区域的位置、破损类型，并基于破损轮廓面积确定塑封薄膜图像的缺陷检测结果，能够降低小面积破损、划痕、褶皱和隆起的干扰，提高缺陷检测结果的准确度，从而降低缺陷检测结果的误判率。

本发明授权塑封薄膜缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种塑封薄膜缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括： 对待检测的塑封薄膜图像进行目标检测，确定所述塑封薄膜图像中破损区域的检测框以及所述破损区域的破损类型； 基于所述检测框的尺寸信息、所述破损类型以及所述塑封薄膜图像进行轮廓检测，确定所述塑封薄膜图像中破损轮廓面积； 基于所述破损轮廓面积确定所述塑封薄膜图像的缺陷检测结果； 其中，所述基于所述检测框的尺寸信息、所述破损类型以及所述塑封薄膜图像进行轮廓检测，确定所述塑封薄膜图像中破损轮廓面积，包括：基于所述检测框的尺寸信息、所述破损类型，确定所述破损区域是否满足预设的轮廓面积计算条件；当所述破损区域满足预设的轮廓面积计算条件时，根据所述检测框的尺寸信息对所述塑封薄膜图像进行图像处理，得到处理后的图像；对所述处理后的图像进行轮廓检测，得到所述处理后的图像中的候选破损轮廓；基于所述处理后的图像中的候选破损轮廓的面积以及圆心，从所述处理后的图像中的候选破损轮廓中确定破损轮廓，将所述破损轮廓的面积确定为所述塑封薄膜图像中破损轮廓面积； 所述基于所述检测框的尺寸信息、所述破损类型，确定所述破损区域是否满足预设的轮廓面积计算条件，包括：将所述检测框的尺寸信息与预设的尺寸阈值进行比较；若所述检测框的尺寸信息小于或等于所述预设的尺寸阈值，且所述破损类型为预设的目标类型，则确定所述破损区域满足预设的轮廓面积计算条件；若所述检测框的尺寸信息大于所述预设的尺寸阈值，或者所述破损类型不是预设的目标类型，则确定所述破损区域不满足预设的轮廓面积计算条件。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人正泰集团研发中心(上海)有限公司，其通讯地址为：200333 上海市闵行区紫月路968号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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