上海大学吴永全获国家专利权
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龙图腾网获悉上海大学申请的专利基于布里渊散射光谱的立方晶系材料弹性常数测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116952839B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310923282.1，技术领域涉及：G01N21/01；该发明授权基于布里渊散射光谱的立方晶系材料弹性常数测量方法是由吴永全;包正平设计研发完成，并于2023-07-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于布里渊散射光谱的立方晶系材料弹性常数测量方法在说明书摘要公布了：一种基于布里渊散射光谱的立方晶系材料弹性常数测量方法，包括：S1.根据所述立方晶系材料样品围绕表面法线旋转的角度，获得立方晶系材料样品的空间旋转角；S2.根据空间旋转角，获取立方晶系材料样品的布里渊散射光谱图，包含两个布里渊散射特征峰；S3.基于布里渊散射光谱特征峰通过洛伦兹拟合获得散射峰的频移；S4.计算所述立方晶系材料样品的声学特征曲线的实验值；S5.拟合立方晶系材料声学特征曲线理论值与实验值，获得立方晶系材料的完整弹性常数张量。本发明能够提高检测效率并对立方晶系材料完整的弹性常数张量实现无损检测。
本发明授权基于布里渊散射光谱的立方晶系材料弹性常数测量方法在权利要求书中公布了：1.一种基于布里渊散射光谱的立方晶系材料弹性常数检测方法，包括： S1.根据立方晶系材料样品围绕表面法线旋转的角度，获得立方晶系材料样品的空间旋转角； S2.根据空间旋转角，获取立方晶系材料样品的布里渊散射光谱图，包含两个布里渊散射特征峰QTA与QLA； S3.基于布里渊散射光谱特征峰通过洛伦兹拟合获得散射峰的频移∆ω； S4.计算所述立方晶系材料样品的声学特征曲线的声速实验值V，公式如下： 式中，λ0是入射光的波长，θ*是所述立方晶系材料样品入射光和散射光之间的散射角； S5.拟合立方晶系材料声学特征曲线理论值与实验值，获得立方晶系材料的完整弹性常数张量； 所述步骤S5.拟合立方晶系材料声学特征曲线理论值与实验值，获得立方晶系材料的完整弹性常数张量，公式如下： 式中，和分别为两个布里渊散射特征峰QTA与QLA的声速，为空间旋转角的角度，c11、c12和c44为三个完整弹性常数张量。
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