买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉中国空间技术研究院申请的专利一维及二维综合孔径辐射计的射频干扰数据融合方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117969557B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410153123.2，技术领域涉及：G01N22/00；该发明授权一维及二维综合孔径辐射计的射频干扰数据融合方法是由张利强;靳榕;张庆君;李青侠;王睿;张欢设计研发完成，并于2024-02-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一维及二维综合孔径辐射计的射频干扰数据融合方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种一维及二维综合孔径辐射计的射频干扰数据融合方法与装置，方法包括：获取一维综合孔径辐射计的测量数据，确定各射频干扰RFI源的第一参数；获取二维综合孔径辐射计的测量数据，确定各射频干扰RFI源的第二参数；构建一维及二维综合孔径辐射计融合处理模型，所述一维及二维综合孔径辐射计融合处理模型包括多个目标函数；确定对应于全部射频干扰源的第三参数，形成一维及二维综合孔径辐射计的射频干扰数据的融合数据；比较测量数据与所述融合数据的性能。本发明的方法，适用于同时搭载一维综合孔径辐射计和二维综合孔径辐射计开展RFI检测、RFI定位、RFI抑制数据处理。

本发明授权一维及二维综合孔径辐射计的射频干扰数据融合方法在权利要求书中公布了：1.一种一维及二维综合孔径辐射计的射频干扰数据融合方法，其特征在于，包括： 步骤S1：卫星同时搭载一维综合孔径辐射计及二维综合孔径辐射计，对同一区域进行测量；获取一维综合孔径辐射计的测量数据，确定各射频干扰RFI源的第一参数；获取二维综合孔径辐射计的测量数据，确定各射频干扰RFI源的第二参数； 步骤S2：基于所述第一参数及所述第二参数，构建一维及二维综合孔径辐射计融合处理模型，所述一维及二维综合孔径辐射计融合处理模型包括多个目标函数；确定对应于全部射频干扰源的第三参数，形成一维及二维综合孔径辐射计的射频干扰数据的融合数据； 步骤S3：比较测量数据与所述融合数据的性能； 所述步骤S1，获取一维综合孔径辐射计的测量数据，确定各射频干扰RFI源的第一参数，包括： 步骤S111：获取一维综合孔径辐射计的测量数据，形成n组数据； 步骤S112：确定各射频干扰RFI源的第一参数，所述第一参数包括各射频干扰源的第一检测位置、第一能量强度数据，其中，每个射频干扰源具有n组第一参数，第k个射频干扰源的第i组第一参数中，第一检测位置为，，为在一维综合孔径辐射计视场中第k个射频干扰源的第i组数据ξ维的值，为在一维综合孔径辐射计视场中第k个射频干扰源的第i组数据η维的值，第一能量强度数据为，为在一维综合孔径辐射计视场中第k个射频干扰源的第i组能量强度数据，所述第一能量强度数据用于表征所述射频干扰源的能量强度； 所述步骤S2，其中，所述一维及二维综合孔径辐射计融合处理模型包括融合处理位置目标函数、融合处理能量强度目标函数；所述融合处理位置目标函数包括融合处理ξ维目标函数和融合处理η维目标函数； 所述融合处理ξ维目标函数为 所述融合处理ξ维目标函数取最小值时所对应的参数ξ即为RFI源在ξ维上位置的最优估计值，，分别为一维综合孔径辐射计与二维综合孔径辐射计ξ维测量数据的方差，n为数据组数； 所述融合处理η维目标函数为 所述融合处理η维目标函数取最小值时所对应的参数即为RFI源在维上位置的最优估计值，为二维综合孔径辐射计对RFI源在维上第k个RFI源的位置的测量数据，为二维综合孔径辐射计η维测量数据的方差； 所述融合处理能量强度目标函数如下所示： 其中，对每个射频干扰源，基于其对应的n组第一参数及n组第二参数计算所述融合处理能量强度目标函数的函数值，在所述融合处理能量强度目标函数取最小值时所对应的参数T即为该射频干扰源的能量强度的最优估计值；为二维综合孔径辐射计对射频干扰源关于能量强度的测量数据，，分别为一维综合孔径辐射计、二维综合孔径辐射计对射频干扰源关于能量强度的测量数据的方差； 所述确定对应于全部射频干扰源的第三参数，形成一维及二维综合孔径辐射计的射频干扰数据的融合数据，包括： 基于各个射频干扰源的位置的最优估计值、能量强度的最优估计值，确定对应于全部射频干扰源的第三参数，所述第三参数包括融合数据第一最优点ξopt、第二最优点ηopt以及第三最优点Topt； 其中，为在一维综合孔径辐射计视场中第k个射频干扰源的第i组数据ξ维的值，为在二维综合孔径辐射计视场中第k个射频干扰源的第i组数据ξ维的值，为在二维综合孔径辐射计视场中第k个射频干扰源的第i组数据η维的值，为在二维综合孔径辐射计视场中第k个射频干扰源的第i组能量强度数据，，分别为一维综合孔径辐射计与二维综合孔径辐射计ξ维测量数据的方差，为二维综合孔径辐射计η维测量数据的方差，，分别为一维综合孔径辐射计、二维综合孔径辐射计对射频干扰源关于能量强度的测量数据的方差。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国空间技术研究院，其通讯地址为：100094 北京市海淀区友谊路104号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。