上海季丰电子股份有限公司范小涛获国家专利权
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龙图腾网获悉上海季丰电子股份有限公司申请的专利图像传感器处理方法和分析方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120722157B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510711339.0，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权图像传感器处理方法和分析方法是由范小涛;刘威龙;季春葵;倪卫华设计研发完成，并于2025-05-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本图像传感器处理方法和分析方法在说明书摘要公布了：本发明公开了图像传感器处理方法和分析方法，图像传感器处理方法中，所述图像传感器包括依次设置的滤光片、DAF膜、裸片和封装基板，所述方法包括：在图像传感器样品的滤光片和打线之间的封装材料上开设腐蚀槽；将酸液加入所述腐蚀槽，使DAF膜暴露出来；对所述腐蚀后样品进行烘烤，得到烘烤后样品；对烘烤后样品中滤光片所在位置进行加热，直至与所述滤光片接触的DAF膜发生龟裂，分离出滤光片，得到除滤光片后的样品；去除除滤光片后的样品中裸片表面的DAF膜，得到裸片表面裸露的组件。本申请中的图像传感器处理方法能够将裸片表面裸露出来，同时不造成裸片的损伤，以便后续对裸片进行失效分析和热点分析等分析测试。
本发明授权图像传感器处理方法和分析方法在权利要求书中公布了：1.一种图像传感器处理方法，所述图像传感器包括依次设置的滤光片、DAF膜、裸片和封装基板，其特征在于，所述方法包括： 开槽，在图像传感器样品的滤光片和打线之间的封装材料上开设腐蚀槽； 酸腐蚀，将酸液加入所述腐蚀槽，对所述封装材料进行腐蚀和清洗，使DAF膜暴露出来，得到腐蚀后样品； 烘烤，对所述腐蚀后样品进行烘烤，得到烘烤后样品； 滤光片剥离，对烘烤后样品中滤光片所在位置进行加热，直至与所述滤光片接触的DAF膜发生龟裂，分离出滤光片，得到除滤光片后的样品； 除DAF膜，去除所述除滤光片后的样品中裸片表面的DAF膜，得到裸片表面裸露的组件。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人上海季丰电子股份有限公司，其通讯地址为：201199 上海市闵行区友东路258-288号2幢101室；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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