江苏富乐华功率半导体研究院有限公司;江苏富乐华半导体科技股份有限公司王斌获国家专利权
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龙图腾网获悉江苏富乐华功率半导体研究院有限公司;江苏富乐华半导体科技股份有限公司申请的专利一种减少AMB覆铜陶瓷基板焊料蚀刻铜残留的方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120857364B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511054019.9,技术领域涉及:H05K3/06;该发明授权一种减少AMB覆铜陶瓷基板焊料蚀刻铜残留的方法是由王斌;窦正旭;唐冬梅设计研发完成,并于2025-07-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种减少AMB覆铜陶瓷基板焊料蚀刻铜残留的方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种减少AMB覆铜陶瓷基板焊料蚀刻铜残留的方法,涉及覆铜陶瓷基板制造技术领域,包括以下步骤:将AMB基板置入在焊料蚀刻液中,搅拌浸泡5‑15min,得到焊料蚀刻AMB基板;对焊料蚀刻AMB基板进行水洗,取出烘干,后置于蚀铜液中,恒温浸泡30‑60s,再次水洗烘干,得到铜蚀刻AMB基板;重复上述两步骤,3‑5次焊料蚀刻后,过清洗线清洗产品并烘干,得到AMB覆铜陶瓷基板。
本发明授权一种减少AMB覆铜陶瓷基板焊料蚀刻铜残留的方法在权利要求书中公布了:1.一种减少AMB覆铜陶瓷基板焊料蚀刻铜残留的方法,其特征在于:包含以下步骤: S1:将AMB基板置入在焊料蚀刻液中,搅拌浸泡5-15min,得到焊料蚀刻AMB基板; S2:对焊料蚀刻AMB基板进行水洗,取出烘干,后置于蚀铜液中,恒温浸泡30-60s,再次水洗烘干,得到铜蚀刻AMB基板; S3:重复S1、S2,3-5次焊料蚀刻后,过清洗线清洗产品并烘干,得到AMB覆铜陶瓷基板; 所述焊料蚀刻液包括以下组分:过硫酸铵、硫酸、氨基多羧酸类化合物、噻二唑类化合物、十二烷基二甲基甜菜碱和去离子水; 所述蚀铜液包括以下组分:过氧化氢、硫酸、硫酸铜、柠檬酸、磷酸、植酸、咪唑类化合物、2-巯基苯并恶唑、乙二胺四亚甲基膦酸、十六烷基三甲基溴化铵和去离子水; 所述焊料蚀刻液的制备方法如下:将硫酸缓慢加入去离子水中,搅拌冷却,加入氨基多羧酸类化合物,搅拌5-15min,依次加入噻二唑类化合物、十二烷基二甲基甜菜碱,搅拌混匀,再加入过硫酸铵,搅拌混匀,得到焊料蚀刻液; 所述蚀铜液的制备方法如下:将硫酸缓慢加入去离子水中,搅拌冷却,后依次加入硫酸铜、磷酸和柠檬酸,搅拌混匀,再加入乙二胺四亚甲基膦酸、2-巯基苯并恶唑、咪唑类化合物、植酸和十六烷基三甲基溴化铵,搅拌至溶液澄清,最后缓慢加入过氧化氢,搅拌,得到蚀铜液; 所述AMB基板的制备过程中所用钎料为Ag-Cu-Ti系钎焊膏。
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