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龙图腾网获悉厦门大学申请的专利一种闭合曲线类缺陷的形貌偏离度量化方法及装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121033050B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511564330.8，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种闭合曲线类缺陷的形貌偏离度量化方法及装置是由冉广;丁一帆;朱士坤设计研发完成，并于2025-10-30向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种闭合曲线类缺陷的形貌偏离度量化方法及装置在说明书摘要公布了：本发明涉及材料微结构表征技术领域，特别涉及一种闭合曲线类缺陷的形貌偏离度量化方法及装置。该方法包括：对由透射电镜拍摄的目标图像进行曲线提取，得到闭合曲线类缺陷和开放曲线类缺陷；针对每个闭合曲线类缺陷，基于开放曲线类缺陷和其余闭合曲线类缺陷，确定该闭合曲线类缺陷的环拓扑指标；其中，所述环拓扑指标用于量化闭合曲线类缺陷的实际形貌与由弹性理论预测的理想形貌的偏离度。因此，上述技术方案能够有效量化闭合曲线类缺陷的形貌偏离度。

本发明授权一种闭合曲线类缺陷的形貌偏离度量化方法及装置在权利要求书中公布了：1.一种闭合曲线类缺陷的形貌偏离度量化方法，其特征在于，包括： 对由透射电镜拍摄的目标图像进行曲线提取，得到闭合曲线类缺陷和开放曲线类缺陷； 针对每个闭合曲线类缺陷，基于开放曲线类缺陷和其余闭合曲线类缺陷，确定该闭合曲线类缺陷的环拓扑指标；其中，所述环拓扑指标用于量化闭合曲线类缺陷的实际形貌与由弹性理论预测的理想形貌的偏离度； 所述环拓扑指标包括嵌套指标、连接度指标、粗糙度指标和边界起伏度指标，所述嵌套指标用于表征闭合曲线类缺陷之间的层次嵌套关系，所述连接度指标用于表征闭合曲线类缺陷内部的连接结构关系，所述粗糙度指标用于表征闭合曲线类缺陷的边界长度变化，所述边界起伏度指标用于表征闭合曲线类缺陷的边界曲率变化； 闭合曲线类缺陷包括位错环、孔洞、腐蚀坑和气泡； 所述嵌套指标是通过如下方式确定的： 选取除该闭合曲线类缺陷Ci之外的其余闭合曲线类缺陷集合{Cj}j≠i作为候选闭合曲线类缺陷集合； 针对每个候选闭合曲线类缺陷Cj，计算Ci和Cj之间的最小欧几里得距离distCi,Cj； 若distCi,Cj≤δ1，δ1为第一预设值，则判定Ci和Cj为相交，且不计为包含关系； 否则，执行如下操作：从Cj的边界上均匀选取若干第一采样点；对每个第一采样点向Ci的中心发射第一射线，统计该第一射线与Ci的交点数；若交点数为奇数，则判定该第一采样点在Ci的内部，若交点数为偶数，则判定该第一采样点在Ci的外部；当全部第一采样点均判定为在Ci的内部时，记； 将位于Ci内部的所有Cj的数量之和作为嵌套指标T1。

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