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龙图腾网获悉深圳驿普乐氏科技有限公司申请的专利基于多物理场耦合的交直流设备高温自适应散热调控方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN121165823B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2026-03-24发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202511697981.4，技术领域涉及：G05D23/19；该发明授权基于多物理场耦合的交直流设备高温自适应散热调控方法是由郭岑设计研发完成，并于2025-11-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于多物理场耦合的交直流设备高温自适应散热调控方法在说明书摘要公布了：本发明公开了基于多物理场耦合的交直流设备高温自适应散热调控方法，涉及设备高温自适应散热调控技术领域，包括如下步骤：测试运行参数与交直流设备中不同的设备组件的温度的关系，命名为升温关系；分析散热装置的散热功率与散热效率的关系，命名为散热关系；基于升温关系对设备组件的温度进行预测，得到设备组件的预测温度；基于设备组件的预测温度以及散热关系对不同的散热装置的散热功率进行自适应调控；本发明用于解决现有的设备高温自适应散热调控技术还存在对散热功率的调控方法过于传统以及对不同部件所需的散热功率的调控不够精准，导致设备中各部件无法获得最佳的散热效果的问题。

本发明授权基于多物理场耦合的交直流设备高温自适应散热调控方法在权利要求书中公布了：1.基于多物理场耦合的交直流设备高温自适应散热调控方法，其特征在于，包括如下步骤： 对交直流设备中的各项运行参数进行监测，测试运行参数与交直流设备中不同的设备组件的温度的关系，命名为升温关系； 为交直流设备中的每个设备组件接入独立控制的散热装置，分析散热装置的散热功率与散热效率的关系，命名为散热关系； 基于升温关系对设备组件的温度进行预测，得到设备组件的预测温度； 基于设备组件的预测温度以及散热关系对不同的散热装置的散热功率进行自适应调控； 对交直流设备中的各项运行参数进行监测，测试运行参数与交直流设备中不同的设备组件的温度的关系，命名为升温关系包括如下子步骤： 对影响设备组件的温度的运行参数进行整合，得到不同的升温影响参数集； 根据升温影响参数集构建升温影响分析体系，由升温影响分析体系分析得到影响阵列； 对影响阵列进行分析，将影响阵列转换为升温特征点，由升温特征点组成升温关系； 对影响设备组件的温度的运行参数进行整合，得到不同的升温影响参数集包括如下子步骤： 在设备组件内嵌入温度传感器，将监测得到的温度命名为组件温度； 对设备组件进行编号，通过符号Sn表示，其中，n为正整数且n为S的序号，将Sn对应的组件温度标记为Tn； 不同的运行参数由不同的设备组件执行，将Sn中执行的运行参数整合为一个升温影响参数集，标记为PUn； 根据升温影响参数集构建升温影响分析体系，由升温影响分析体系分析得到影响阵列包括如下子步骤： 对不同的PUn独立进行分析，对PUn中的运行参数进行编号，通过符号Hn,m表示，其中，m为正整数且n,m为H的序号； 获取运行参数以及设备温度的历史数据，分别命名为历史参数以及历史温度，将运行参数Hn,m在历史参数中的最小值和最大值分别标记为Minn,m以及Maxn,m，为每种运行参数构建一个一维坐标系，命名为参数独立坐标系，所述所有参数独立坐标系的长度均相同，且为线段形式，将Hn,m对应的参数独立坐标系标记为CSn,m，所述CSn,m上的左端点为Minn,m，右端点为Maxn,m； 若m最大为1，则以Hn,1为X轴，设备温度为Y轴建立二维坐标系，命名为升温分析图，将历史温度按照历史参数录入升温分析图，再对升温分析图进行离散回归分析，得到的离散函数即为升温关系； 若m的最大值大于1，则将CSn,m的右端点与CSn,m+1的左端点重叠，同时CSn,m与CSn,m+1之间存在一定的夹角，使得所有的CSn,m重叠后组成一个正多边形，得到升温影响分析体系； 将历史参数代入升温影响分析体系中各自的CSn,m，将历史参数在CSn,m上对应的点标记为Rn,m，过Rn,m作CSn,m的垂线，每一个CSn,m的垂线之间将会形成不同的交点，命名为影响点，由所有的影响点共同组成影响阵列，升温影响参数集中同一时刻记录到的每一项历史参数组成一条历史信息，一条历史信息对应一个影响阵列； 对影响阵列进行分析，将影响阵列转换为升温特征点，由升温特征点组成升温关系包括如下子步骤： 以影响阵列中最左侧的影响点开始，将其命名为目标分析点，查找与目标分析点相距最近的两个影响点，命名为目标相邻点，由目标分析点以及目标相邻点三个点共同组成一个三角形，获取三角形的内心，命名为次级分析点，同时将目标分析点以及目标相邻点剔除，循环查找目标分析点并分析次级分析点，直至所有影响点均被剔除为止； 将次级分析点作为新的影响点，重复执行，直至最终仅剩一个次级分析点为止，将最终剩余的次级分析点命名为升温特征点，分析每条历史信息的升温特征点，由升温特征点组成升温关系，每个设备组件拥有独立的升温关系。

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